[发明专利]一种悬臂式微小推力测量系统及其电磁标准力标定方法有效
申请号: | 202111520646.9 | 申请日: | 2021-12-13 |
公开(公告)号: | CN114486029B | 公开(公告)日: | 2023-08-25 |
发明(设计)人: | 范威;邓永锋;郑军棋;方吉汉;林榕;王君;韩先伟;谭畅 | 申请(专利权)人: | 西安航天动力研究所 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00;G01L25/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
地址: | 710100 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 悬臂 式微 推力 测量 系统 及其 电磁 标准 标定 方法 | ||
1.一种悬臂式微小推力测量系统,其特征在于:包括真空室(1)、设置在真空室(1)内的固定支架(2)和测量单元;
所述固定支架(2)上固定设置有垂直于水平方向的弹性梁(7);
所述测量单元包括测量靶(8)、与测量靶(8)相连接的电磁阻尼器(5)及位移传感器(6);
所述测量靶(8)连接在所述弹性梁(7)的下端;
所述电磁阻尼器(5)包括阻尼器支架(53)、第一对永磁铁(54)、第二对永磁铁(55)、电磁线圈(51)及金属骨架(52);
所述电磁线圈(51)缠绕设置在金属骨架(52)外侧;
所述阻尼器支架(53)一侧固定设置在测量靶(8)的背侧中部,阻尼器支架(53)另一侧垂直于测量靶(8)的方向具有第一凹槽和第二凹槽,所述第一对永磁铁(54)对称设置在第一凹槽的两个侧面,第二对永磁铁(55)对称设置在第二凹槽的两个侧面;
所述金属骨架(52)插入第一凹槽和第二凹槽,用于使电磁线圈(51)位于第一对永磁铁(54)之间,同时位于第二对永磁铁(55)之间,且所述电磁线圈(51)与第一对永磁铁(54)和第二对永磁铁(55)之间具有间隙;
所述位移传感器(6)通过支架设置于测量靶(8)的背面,用于测量测量靶(8)的位移值。
2.根据权利要求1所述的悬臂式微小推力测量系统,其特征在于:
所述阻尼器支架(53)为方形碳钢阻尼器支架,所述金属骨架(52)为与方形碳钢阻尼器支架相适配的U型金属骨架(52)。
3.根据权利要求2所述的悬臂式微小推力测量系统,其特征在于:
所述固定支架(2)包括水平设置的底板、固定在底板上且垂直于底板的竖梁(3)及固定在竖梁(3)上的横梁(4),所述弹性梁(7)固定安装在横梁(4)上并沿垂直于水平面的方向自由下垂。
4.根据权利要求3所述的悬臂式微小推力测量系统,其特征在于:
所述弹性梁(7)为弹性元件,由无磁性材料制成,弹性梁(7)的弹性与弹性梁的长度、厚度和宽度的关系公式为:
其中,E为弹性梁(7)的杨氏弹性模量,F为待测推力设备(9)的最大推力,L为弹性梁(7)的长度,ω为弹性梁(7)的轴向位移,b为弹性梁(7)的宽度,h为弹性梁(7)的厚度。
5.根据权利要求3所述的悬臂式微小推力测量系统,其特征在于:
所述测量靶(8)为无磁性,耐高温材料制成。
6.根据权利要求3所述的悬臂式微小推力测量系统,其特征在于:
所述测量靶(8)为不锈钢或石墨或陶瓷材料。
7.一种电磁标准力标定方法,其特征在于,基于权利要求1-6任一项所述的悬臂式微小推力测量系统,包括以下步骤:
S1、将电磁阻尼器(5)设置在天平(10)上:阻尼器支架(53)放置在天平(10)上,第一凹槽和第二凹槽开口向上,将缠绕电磁线圈(51)的金属骨架(52)插入第一凹槽和第二凹槽,所述电磁线圈位于第一凹槽之间,同时位于第二凹槽之间,且与第一对永磁铁(54)和第二对永磁铁(55)之间具有间隙;所述缠绕电磁线圈(51)的金属骨架(52)使用电磁线圈支撑架(11)支撑;
S2、向电磁线圈(51)通入不同强度的电流,使用天平(10)测量磁场作用下产生的电磁标准力,得到电流强度与电磁标准力之间的对应关系;
S3、将电磁阻尼器(5)设置在测量靶(8)的背面中部,向电磁线圈(51)通入不同强度电流,电磁阻尼器(5)产生的电磁标准力使测量靶(8)产生位移,得到电流强度与测量靶(8)位移值之间的对应关系;
S4、根据步骤S2中电流强度与电磁标准力之间的对应关系和步骤S3中电流强度与测量靶(8)位移值之间的对应关系进行换算,得到电磁标准力与测量靶(8)位移值之间的对应关系。
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