[发明专利]接触网部件缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种接触网部件缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取高铁接触网的待检测图像；

在所述待检测图像中包括待检测部件的情况下，确定所述待检测部件所在的区域图像；

对所述待检测部件所在的区域图像进行预设的多种缺陷类别的缺陷检测，得到所述待检测部件的缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测部件所在的区域图像进行预设的多种缺陷类别的缺陷检测，得到所述待检测部件的缺陷检测结果，包括：

对所述待检测部件所在的区域图像进行特征提取，得到第一共享特征图；

采用所述多种缺陷类别中每种缺陷类别对应的分类网络分别对所述第一共享特征图进行缺陷分类，得到所述待检测部件对于所述每种缺陷类别的缺陷检测结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述每种缺陷类别的缺陷检测结果包括以下中的一种：

存在该类别的缺陷；

不存在该类别的缺陷；

无法判断是否存在该类别的缺陷；

存在缺陷，但是无法确定所存在的缺陷的类别是否为该类别。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测部件所在的区域图像进行特征提取，得到第一共享特征图，包括：

对所述待检测部件所在的区域图像进行卷积，得到第一特征图；

对所述第一特征图进行m个阶段的下采样，得到m个尺度的特征图，所述m个尺度的特征图与所述m个阶段的下采样一一对应，m为大于等于2的整数；

对所述第一特征图和所述m个尺度的特征图中的n个目标特征图进行映射，得到(n+1)个第二特征图，n为大于等于2且小于等于m的整数；

结合所述(n+1)个第二特征图对所述m个尺度的特征图中尺度最小的特征图进行m个阶段的上采样，得到所述第一共享特征图。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述结合所述(n+1)个第二特征图对所述m个尺度的特征图中尺度最小的特征图进行m个阶段的上采样，得到所述第一共享特征图，包括：

对所述尺度最小的特征图进行第1个阶段的上采样；

对于所述m个阶段的上采样中第r个阶段的上采样，若所述(n+1)个第二特征图中存在目标第二特征图，则将所述目标第二特征图与所述第r个阶段的上采样得到的特征图进行融合，得到第一融合特征图，所述目标第二特征图为与所述第r个阶段的上采样得到的特征图的尺度相同的第二特征图，r为大于等于1且小于等于(m-1)的整数；

对所述第一融合特征图或所述第r个阶段的上采样得到的特征图，进行第(r+1)个阶段的上采样，直至完成第m个阶段的上采样；

将所述第m个阶段的上采样得到的特征图与所述(n+1)个第二特征图中尺度相同的特征图进行融合，得到第二融合特征图；

对所述第二融合特征图进行后处理，得到所述第一共享特征图。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述第一特征图和所述m个尺度的特征图中的n个目标特征图进行映射，包括：

对于所述第一特征图和所述n个目标特征图中的每个特征图，对所述每个特征图进行第1次可逆转换处理，得到第1次映射后的特征图；

对第s次映射后的特征图进行第(s+1)次可逆转换处理，得到第(s+1)次映射后的特征图，s为大于或等1的整数；

通过至少2次可逆转换处理，将所述每个特征图映射为第二特征图，所述(n+1)个第二特征图包括所述第二特征图。