[发明专利]产品缺陷检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 202111488051.X 申请日: 2021-12-08
公开(公告)号: CN113888542B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 卞庆林;郭骏;潘正颐;侯大为;倪文渊 申请(专利权)人: 常州微亿智造科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/774;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 刘松
地址: 213016 江苏省常州市钟*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 产品 缺陷 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种产品缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

构建可变形卷积缺陷检测模型,所述可变形卷积缺陷检测模型包括第一检测模块、第二检测模块、第三检测模块和第四检测模块,所述第二检测模块分别与所述第一检测模块和所述第三检测模块相连,所述第二检测模块和所述第三检测模块通过ROI Align网络连接所述第四检测模块,其中,

所述第一检测模块为残差网络,所述第二检测模块为FPN网络,所述第三检测模块为RPN网络,所述第四检测模块为Head网络,具体地,所述第一检测模块为残差网络包括第一梯度、第二梯度、第三梯度和第四梯度,并且所述第一梯度、所述第二梯度、所述第三梯度和所述第四梯度均由层叠残差网络构成,并且所述层叠残差网络包括第一类层叠残差网络和第二类层叠残差网络,其中,所述第一类层叠残差网络包含DCL网络,所述第二类层叠残差网络不包含DCL网络,此外,所述第一类层叠残差网络和所述第二类层叠残差网络均包含X1-Y1、X2-Y2、X3-Y3、X4-Y4四个映射通道,并且在所述第一类层叠残差网络的所述X2-Y2、所述X3-Y3、所述X4-Y4映射通道中层叠设置3*3DCBR网络,在所述第二类层叠残差网络的所述X2-Y2、所述X3-Y3、所述X4-Y4映射通道中层叠设置3*3CBR网络;

获取待检测产品的图像数据;

均衡处理所述图像数据以得到样本数据;

根据所述样本数据训练所述可变形卷积缺陷检测模型;

采用训练后所述可变形卷积缺陷检测模型对所述待检测产品进行缺陷检测。

2.根据权利要求1所述的产品缺陷检测方法,其特征在于,其中,

所述第一梯度包括三个所述第二类层叠残差网络;

所述第二梯度包括四个所述第一类层叠残差网络;

所述第三梯度包括六个所述第一类层叠残差网络;

所述第四梯度包括三个所述第一类层叠残差网络。

3.根据权利要求2所述的产品缺陷检测方法,其特征在于,所述待检测产品包括多个项目平台产品,所述图像数据包括所述多个项目平台产品的图像数据。

4.根据权利要求3所述的产品缺陷检测方法,其特征在于,均衡处理所述图像数据以得到样本数据,具体包括以下步骤:

采用CycleGAN网络均衡处理所述图像数据以得到样本数据。

5.根据权利要求4所述的产品缺陷检测方法,其特征在于,根据所述样本数据训练所述可变形卷积缺陷检测模型,具体包括以下步骤:

对所述样本数据进行标注分配以得到训练集、验证集和测试集;

对所述训练集在线数据增强操作,以得到待输入训练集;

对所述测试集和所述验证集分别进行TTA操作,以对应得到待输入测试集和待输入验证集;

根据所述待输入训练集、所述待输入测试集和所述待输入验证集训练所述可变形卷积缺陷检测模型。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州微亿智造科技有限公司,未经常州微亿智造科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111488051.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top