[发明专利]一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法在审
申请号: | 202111486091.0 | 申请日: | 2021-12-07 |
公开(公告)号: | CN116242809A | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 黄子健;芦子哲;王成;黄盼宁;贺晓光 | 申请(专利权)人: | TCL科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 钟勤 |
地址: | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 量子 测量 装置 及其 测量方法 | ||
本申请实施例公开了一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法,该量子产率测量装置包括积分球、光源和载样设备,光源用于提供射入积分球内的激发光束;载样设备设置在积分球中;载样设备包括机架、样品台和掩膜板;样品台和掩膜板均设置在机架上,样品台用于放置待测试样品;掩膜板设有用于供激发光束穿过并照射到待测试样品的通孔,通孔的面积小于或等于4mmsupgt;2/supgt;。本申请还提供了基于该量子产率测量装置的量子产率的测量方法。本申请提供的量子产率测量装置、量子产率的测量方法可以提高待测试样品的荧光量子产率的测量准确性。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法。
背景技术
荧光量子产率(Fluorescence Quantum Yield,PLQY)作为电致发光器件的一个重要指标,PLQY的高低也间接反映了电致发光器件的发光层电致发光时辐射复合效率高低,因此测量电致发光器件的PLQY对预测器件的性能好坏有很好的参考作用。同时,PLQY还可以用作评判发光层在电致发光器件中的衰减指标:如在长时间的恒流老化过程中,测量电致发光器件发光层的PLQY可用以判别发光层是否受到破坏。目前测量PLQY的设备都是针对溶液和薄膜的,这要求溶液和薄膜的面积大于激发光的光斑面积,而现有技术中,由于电致发光器件的微型化,大量的电致发光器件的活性区域面积较小,远小于目前测量PLQY的设备中提供的光斑面积(光斑面积通常为3mm×5mm),特别是量子点发光二极管(QuantumDots Light-Emitting Diode,QLED),QLED的活性区域通常仅有2mm×2mm,比光斑面积小很多,因此,对于活性区域小于常规光斑面积的电致发光器件,其测量得到的PLQY难以反映电致发光器件的活性区域发射的荧光,也难以反应电致发光器件的发光层在衰减前后真实的PLQY。因此,当被测试电致发光器件的活性区域小于激发光的光斑面积时,测得的PLQY不可避免会与真实的PLQY出现较大误差。
发明内容
本申请实施例提供一种量子产率测量装置,减小电致发光器件的荧光量子产率的测量误差。
本申请实施例还提供一种量子产率的测量方法。
第一方面,本申请实施例提供一种量子产率测量装置,包括:
积分球;
光源,光源用于提供射入积分球内的激发光束;以及
载样设备,载样设备设置在积分球中,载样设备包括机架、样品台和掩膜板;样品台和掩膜板均设置在机架上,样品台用于放置待测试样品;掩膜板设有用于供所述激发光束穿过并照射到待测试样品的通孔,通孔的面积小于或等于4mm2。
可选的,在本申请的一些实施例中,通孔为边长为1~2mm的正方形孔或直径为1~2mm的圆形孔。
可选的,在本申请的一些实施例中,样品台上设置有用于定位待测试样品的定位工具;
定位工具为定位件、定位槽、定位刻度中的任一种。
可选的,在本申请的一些实施例中,载样设备还包括光强信息采集装置,光强信息采集装置设置在机架上,光强信息采集装置用于采集待测试样品的不同区域经激发光束激发后的出光强度信息。
可选的,在本申请的一些实施例中,载样设备还包括位置信息采集装置,位置信息采集装置与光强信息采集装置电连接,光强信息采集装置发送出光强度信息对应的区域信息至位置信息采集装置,位置信息采集装置根据区域信息记录位置信息。
可选的,在本申请的一些实施例中,载样设备还包括移动装置,移动装置连接于机架,用于使样品台与激发光束相对移动。
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