[发明专利]一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法在审

专利信息
申请号: 202111486091.0 申请日: 2021-12-07
公开(公告)号: CN116242809A 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 黄子健;芦子哲;王成;黄盼宁;贺晓光 申请(专利权)人: TCL科技集团股份有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 钟勤
地址: 516006 广东省惠州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 量子 测量 装置 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种量子产率测量装置,其特征在于,包括:

积分球;

光源,所述光源用于提供射入所述积分球内的激发光束;以及

载样设备,所述载样设备设置在所述积分球中,所述载样设备包括机架、样品台和掩膜板;所述样品台和所述掩膜板均设置在所述机架上,所述样品台用于放置待测试样品;所述掩膜板设有用于供所述激发光束穿过并照射到所述待测试样品的通孔,所述通孔的面积小于或等于4mm2

2.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述通孔为边长为1~2mm的正方形孔或直径为1~2mm的圆形孔。

3.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述样品台上设置有用于定位所述待测试样品的定位工具;

所述定位工具为定位件、定位槽、定位刻度中的任一种。

4.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述载样设备还包括:

光强信息采集装置,所述光强信息采集装置设置在所述机架上,所述光强信息采集装置用于采集所述待测试样品的不同区域经所述激发光束激发后的出光强度信息。

5.根据权利要求4所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述载样设备还包括:

位置信息采集装置,所述位置信息采集装置与所述光强信息采集装置电连接,所述光强信息采集装置发送所述出光强度信息对应的区域信息至所述位置信息采集装置,所述位置信息采集装置根据所述区域信息记录位置信息。

6.根据权利要求5所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述载样设备还包括:

移动装置,所述移动装置连接于所述机架,用于使所述样品台与所述激发光束相对移动。

7.根据权利要求6所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述量子产率测量装置还包括:

控制装置,所述控制装置分别与所述光强信息采集装置、所述位置信息采集装置、所述移动装置电连接,所述控制装置包括用于接收所述位置信息的接收单元和用于根据所述接收单元接收的位置信息控制所述样品台移动到指定位置的控制单元。

8.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述量子产率测量装置还包括:

反光镜,所述反光镜设置在所述机架上,所述反光镜用于反射所述激发光束,以使所述激发光束通过所述反光镜反射在所述掩膜板上。

9.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述量子产率测量装置还包括:

光学测量模块,所述光学测量模块用于接收射出所述积分球的出射光,并测试所述出射光的荧光强度。

10.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述载样设备的表面和所述积分球的内表面均覆盖有聚四氟乙烯材料层。

11.一种量子产率的测量方法,其特征在于,包括:

将待测试样品置于权利要求1~10任一项所述的量子产率测量装置的所述样品台上;

使激发光束穿过所述掩膜板的所述通孔照射所述待测试样品;

测量所述待测试样品的活性区域的荧光光谱。

12.根据权利要求11所述的量子产率的测量方法,其特征在于,所述载样设备还包括光强信息采集装置;

在使激发光束穿过所述掩膜板的所述通孔照射所述待测试样品之后,在测量所述待测试样品的活性区域的荧光光谱之前,还包括:

使所述待测试样品相对于所述激发光束移动,以使所述激发光束照射所述待测试样品的不同区域,利用光强信息采集装置获取所述待测试样品的不同区域对应的出光强度信息,根据所述出光强度信息确定所述待测试样品的所述活性区域。

13.根据权利要求12所述的量子产率的测量方法,其特征在于,在使激发光束穿过所述掩膜板的所述通孔照射所述待测试样品之前,还包括:

设定移动区域,所述移动区域为所述待测试样品的阴极、阳极在所述样品台上垂直投影大的区域;

在使所述待测试样品相对于所述激发光束移动时,所述待测试样品的移动范围在所述移动区域限定的范围内。

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