[发明专利]一种更换CPU测试插槽的员工培训装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111468424.7 申请日: 2021-12-03
公开(公告)号: CN114333467A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 嵇康;曾昭孔;朱军;郭宏伟;崔秀秀 申请(专利权)人: 苏州通富超威半导体有限公司
主分类号: G09B9/00 分类号: G09B9/00;G09B23/18
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 李萍
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 更换 cpu 测试 插槽 员工 培训 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种更换CPU测试插槽的员工培训装置及方法。该员工培训装置包括训练盘,训练盘的各测试单元分别包括:安装治具,包括用于容置CPU测试插槽的安装槽;限位盖板,其能够在CPU测试插槽置入安装槽后封盖在槽口上;检测杆,其能够在限位盖板封盖在槽口上后压在限位盖板的正面上;第一传感器,其用于在检测到CPU测试插槽后发出第一检测信号;第二传感器,其用于在检测到检测杆压在限位盖板的正面上后发出第二检测信号;员工培训装置还包括:控制器,其分用于在接收到同一个测试单元的第一检测信号及第二检测信号后判断该测试单元中正确插入有CPU测试插槽。本发明提高了CPU测试插槽的更换效率,减少CPU测试插槽的损坏率。

技术领域

本发明属于半导体器件的测试设备领域,涉及一种更换CPU测试插槽的员工培训装置及方法。

背景技术

在半导体测试工艺中,需要频繁更换备件。例如在测试CPU时,CPU插入到测试板上的测试插槽内,通过测试插槽上的导通部件(如pin针、弹片等)和测试板上的电子线路或元器件实现电性连接,然而在使用一段时间后,由于灰尘影响或导通部件断裂损坏等,测试插槽需要进行更换,以保证将待测的CPU和测试板进行有效的连接。因此,在测试时,需要相应更换CPU的测试插槽,但是更换的质量,是根据操作人员的熟练程度决定的。目前,CPU测试插槽由人工更换,存在如下情形:由于操作不熟练,增加更换CPU测试插槽时间,损坏unit,影响产线生产;CPU测试插槽装反,导致需要重装;没有根据使用要求安装;人员没有经过培训直接上岗,导致产品合格率降低;缺少相应的培训记录,无法判断人员维修是否合格以及人员能力等级判断。

发明内容

针对上述技术问题,本发明的目的是提供一种更换CPU测试插槽的员工培训装置及方法,提高了CPU测试插槽的更换效率,减少CPU测试插槽的损坏率。

根据本发明的第一个方面,一种更换CPU测试插槽的员工培训装置,包括训练盘,所述训练盘具有多个测试单元,各所述测试单元分别包括:

安装治具,其用于模拟所述CPU测试插槽在CPU测试设备上的安装,所述安装治具包括用于容置所述CPU测试插槽的安装槽,所述安装槽具有面向上方的槽口;

限位盖板,其能够在所述CPU测试插槽置入所述安装槽后封盖在所述槽口上,所示限位盖板具有面向所述安装槽的背面和与之相反的正面;

检测杆,其能够在所述限位盖板封盖在所述槽口上后压在所述限位盖板的正面上;

第一传感器,其用于检测所述安装槽中是否存在CPU测试插槽,并在检测到所述CPU测试插槽后发出第一检测信号;及

第二传感器,其用于检测所述检测杆是否压在所述限位盖板的正面上,并在检测到所述检测杆压在所述限位盖板的正面上后发出第二检测信号;

所述员工培训装置还包括:

控制器,其分别和各所述测试单元的所述第一传感器和所述第二传感器电性连接,所述控制器用于在接收到同一个所述测试单元的所述第一检测信号及所述第二检测信号后判断该测试单元中正确插入有所述CPU测试插槽。

在一优选的实施例中,所述限位盖板通过第一转轴可转动地连接于所述安装治具上,所述检测杆通过第二转轴可转动地连接于所述安装治具上。

在一更优选的实施例中,所述第一转轴和所述第二转轴分别位于所述安装槽的所述槽口的相对两侧。

在一优选的实施例中,所述第一传感器设置于所述安装槽内,所述第二传感器设置于所述限位盖板或所述安装治具的上表面上。

在一优选的实施例中,所述员工培训装置包括支架,所述训练盘的数量为多个,多个所述训练盘上下间隔设置,且所述训练盘能够沿水平方向滑动地设置于所述支架上。

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