[发明专利]一种芯片光刻用氦气输送泵在审
申请号: | 202111403841.3 | 申请日: | 2021-11-24 |
公开(公告)号: | CN113944644A | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | 蒋启权;王代明 | 申请(专利权)人: | 凯磁科技(宁波)有限公司 |
主分类号: | F04D25/06 | 分类号: | F04D25/06;F04D25/02;F04D29/42;F04D29/08;F04D29/053;F04D29/056;F04D29/12;F04D29/051;F04D15/00;F04D29/58;F04D29/058 |
代理公司: | 成都市鼎宏恒业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51248 | 代理人: | 王德伟 |
地址: | 315000 浙江省宁波市慈溪*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 光刻 氦气 输送 | ||
本发明公开了一种芯片光刻用氦气输送泵,包括机壳,机壳的左端密封连接有蜗壳组件,机壳的右端密封连接有轴承支撑组件,机壳内腔的左端密封安装有磁轴承定子a,机壳内腔的右端密封安装有磁轴承定子b,机壳内腔的中部安装有定子组件,机壳内还安装有转轴总成,转轴总成依次穿过磁轴承定子a、定子组件和磁轴承定子b,且转轴总成在磁轴承定子a、定子组件和磁轴承定子b的磁力作用下周向转动,转轴总成的左端还安装有叶轮,叶轮位于蜗壳组件内。机壳内的氦气会形成静态密封,在工作时,机壳内的组件与蜗壳之间会形成气密封,从而避免了氦气从机壳内带走物质,保证了氦气质量,且该氦气输送泵,能够高速转动,从而保证氦气的输送。
技术领域
本发明涉及芯片光刻用的氦气输送,特别是一种芯片光刻用氦气输送泵。
背景技术
目前,光刻机是芯片制作时需要使用到的设备,全球的光刻机处于垄断状态,而且国外还对国内进行了技术封锁,导致国内的光刻机需要突破层层封锁,才有可能制造出高端的芯片。
光刻机在制作芯片时,为保证芯片的光刻的质量,通常会在氦气环境中进行光刻,并且氦气在一个密闭的通道中进行流动,而为了使氦气流动,则需要给氦气动力,因此则需要氦气输送泵,但是光刻机对氦气要求比较高,特别是在洁净度方面,因此对氦气输送泵也就要求无油、无尘、无噪音等。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点,提供一种芯片光刻用氦气输送泵。
本发明的目的通过以下技术方案来实现:一种芯片光刻用氦气输送泵,包括机壳,机壳的左端密封连接有蜗壳组件,机壳的右端密封连接有轴承支撑组件,机壳内腔的左端密封安装有磁轴承定子a,机壳内腔的右端密封安装有磁轴承定子b,机壳内腔的中部安装有定子组件,机壳内还安装有转轴总成,转轴总成依次穿过磁轴承定子a、定子组件和磁轴承定子b,且转轴总成在磁轴承定子a、定子组件和磁轴承定子b的磁力作用下周向转动,转轴总成的左端还安装有叶轮,叶轮位于蜗壳组件内。
可选的,转轴总成包括中空的芯轴a和中空的芯轴b,芯轴a或芯轴b的内腔内安装有磁钢,芯轴a和芯轴b通过磁钢磁性连接,位于叶轮右侧的芯轴a上从左往右依次安装有衬套a和待测件,衬套a上套装有轴承a,衬套a、轴承a和待测件均位于磁轴承定子b内,芯轴b上从左往右此次设置有径向磁轴承冲片b、被测环、推力盘和轴承b,径向磁轴承冲片b、被测环、推力盘位于磁轴承定子b内,轴承b位于轴承支撑组件内。
可选的,磁轴承定子a包括支撑座、轴承座a,检测组件a和径向磁轴承定子a,支撑座的外缘上安装有密封圈,支撑座通过螺钉组件安装在机壳的左端,且支撑座和机壳的左端内腔通过密封圈密封,支撑座具有台阶腔a和台阶腔b,台阶腔a位于台阶腔b的左侧,且台阶腔a内密封安装有轴承座a,台阶腔b内安装有径向磁轴承定子a,台阶腔a内还安装有检测待测件移动的检测组件a,检测组件a位于径向磁轴承定子a和轴承座a之间,轴承a位于轴承座a内,且芯轴a上还安装有密封环,密封环位于待测件和叶轮之间,密封环的内圈与芯轴a在径向方向上具有间隙,且密封环在叶轮的顶压下紧压衬套a。
可选的,检测组件a包括固定壳a和塑封模块a,塑封模块a安装在固定壳a内,且塑封模块a的径向方向上安装有检测芯轴a径向位移的径向位移探测器a,塑封模块a块的轴向方向上安装有检测芯轴a轴向位移的轴向位移探测器,塑封模块a包括环形圈,环形圈的径向方向上设置有径向柱a,环形圈的内侧壁上轴向设置有的轴向柱a,固定壳a上具有芯轴a穿过的通孔,且固定壳a的一端面上开设有环形槽d,固定壳a的径向方向上开设有径向穿孔a,径向穿孔a穿过环形槽d并与通孔连通,固定壳a上还轴向开设有轴向穿孔a,环形圈安装在环形槽d内,轴向柱a安装在轴向穿孔a内,径向柱a安装在径向穿孔a内,径向柱a内安装有检测待测件径向位移的径向位移探测器a,轴向柱a内安装有检测待测件轴向位于的轴向位移探测器。
可选的,待测件具有轴向检测面和径向检测面,芯轴a穿过固定壳a的通孔,且径向检测面与通孔之间存在间隙,轴向检测面与固定壳a之间存在间隙。
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