[发明专利]一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机及其操作方法

说明书

本发明涉及干燥粉末制样技术领域，提出了一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机及其操作方法，包括设置在机架上具有压样空腔的主体、通过压力单元驱动后滑动设置在压样空腔的第一顶杆和铰接设置在机架上的横梁，压样空腔具有进料口，横梁有升降设置的支撑件，横梁转动固定后支撑件位于进料口上方，承托件滑动设置在压样空腔中，第一顶杆抵接在承托件上，还包括设置在进料口处的加料模具，加料模具具有同心设置的第一进料通道和第二进料通道，第二进料通道位于第一进料通道外圈，加料模具移开后端盖设置在进料口处，支撑件下降后抵接在端盖上。通过上述技术方案，解决了相关技术中样品和硼酸容易混合在一起的问题。

技术领域

本发明涉及干燥粉末制样技术领域，具体的，涉及一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机及其操作方法。

背景技术

现有技术中在为石灰石粉末、白水泥粉末压样时，由于其处于干燥状态下，将其放入压样机中，由于其结构性质导致无法形成牢固的饼状，压样完成后移动样片很容易松散破碎，导致无法将其移动至X荧光光谱分析仪上进行成分分析，而现有的解决方法为需要以硼酸、聚乙烯等为粘结剂添加到试样中，使粉末粘结，然后再压制成型，样品环的厚度值存在误差，造成样品和探测器之间的高度不一致，产生测量误差，同时样品和硼酸容易混合一起，造成样品含量不一致。

发明内容

本发明提出一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机及其操作方法，解决了相关技术中样品和硼酸容易混合在一起的问题。

本发明的技术方案如下：

一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机，包括设置在机架上具有压样空腔的主体、通过压力单元驱动后滑动设置在所述压样空腔的第一顶杆和铰接设置在所述机架上的横梁，所述压样空腔具有进料口，所述横梁有升降设置的支撑件，所述横梁转动固定后所述支撑件位于所述进料口上方，承托件滑动设置在所述压样空腔中，所述第一顶杆抵接在所述承托件上，还包括

加料模具，设置在所述进料口处，所述加料模具具有同心设置的第一进料通道和第二进料通道，所述第二进料通道位于所述第一进料通道外圈，所述第一进料通道用于向所述压样空腔中加样品，所述第二进料通道用于向所述压样空腔中加粘接剂，

端盖，所述加料模具移开后所述端盖设置在所述进料口处，所述支撑件下降后抵接在所述端盖上。

作为进一步的技术方案，还包括设置在所述机架上的上料组件，所述端盖、所述加料模具和所述承托件放置在所述机架上，且位于所述上料组件下方，所述上料组件包括

转动件，转动设置在所述机架上，通过动力单元驱动其转动，

加料仓，滑动设置在所述转动件上，转动后位于所述进料口上方，

第一抓取组件和第二抓取组件，均设置在所述转动件上，所述转动件转动后所述第一抓取组件和所述第二抓取组件依次位于所述进料口上方，所述第一抓取组件用于抓取所述承托件和所述端盖，所述第二抓取组件用于抓取所述加料模具，

第二顶杆，滑动设置在所述转动件上，所述转动件转动后所述第二顶杆位于所述进料口上方，所述第二顶杆滑动后所述支撑件通过所述第二顶杆抵接在所述端盖上。

作为进一步的技术方案，所述第一抓取组件包括设置在所述转动件上的第一伸缩件，所述第一伸缩件的伸缩端上设置有与负压单元连通的负压吸头，所述第一伸缩件伸缩后所述负压吸头作用在所述承托件或所述端盖上。

作为进一步的技术方案，所述第二抓取组件包括设置在所述转动件上的第二伸缩件，所述第二伸缩件的伸缩端上对称设置有滑动设置的两个滑块，所述滑块滑动后用于夹取所述加料模具。

作为进一步的技术方案，所述加料仓具有第一加料腔体和第二加料腔体，所述加料仓滑动后所述第一加料腔体伸入所述第一进料通道中，所述第二加料腔体伸入所述第二进料通道中。