[发明专利]一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机及其操作方法

权利要求书

1.一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机，包括设置在机架（1）上具有压样空腔（2）的主体（3）、通过压力单元（4）驱动后滑动设置在所述压样空腔（2）的第一顶杆（5）和铰接设置在所述机架（1）上的横梁（6），所述压样空腔（2）具有进料口（7），所述横梁（6）有升降设置的支撑件（8），所述横梁（6）转动固定后所述支撑件（8）位于所述进料口（7）上方，承托件（9）滑动设置在所述压样空腔（2）中，所述第一顶杆（5）抵接在所述承托件（9）上，其特征在于，还包括

加料模具（10），设置在所述进料口（7）处，所述加料模具（10）具有同心设置的第一进料通道（11）和第二进料通道（12），所述第二进料通道（12）位于所述第一进料通道（11）外圈，所述第一进料通道（11）用于向所述压样空腔（2）中加样品，所述第二进料通道（12）用于向所述压样空腔（2）中加粘接剂，

端盖（13），所述加料模具（10）移开后所述端盖（13）设置在所述进料口（7）处；

还包括设置在所述机架（1）上的上料组件（14），所述端盖（13）、所述加料模具（10）和所述承托件（9）放置在所述机架（1）上，且位于所述上料组件（14）下方，所述上料组件（14）包括

转动件（15），转动设置在所述机架（1）上，通过动力单元驱动其转动，

加料仓（16），滑动设置在所述转动件（15）上，转动后位于所述进料口（7）上方，

第一抓取组件（17）和第二抓取组件（18），均设置在所述转动件（15）上，所述转动件（15）转动后所述第一抓取组件（17）和所述第二抓取组件（18）依次位于所述进料口（7）上方，所述第一抓取组件（17）用于抓取所述承托件（9）和所述端盖（13），所述第二抓取组件（18）用于抓取所述加料模具（10），

第二顶杆（19），滑动设置在所述转动件（15）上，所述转动件（15）转动后所述第二顶杆（19）位于所述进料口（7）上方，所述第二顶杆（19）滑动后所述支撑件（8）通过所述第二顶杆（19）抵接在所述端盖（13）上；

所述第一抓取组件（17）和所述第二抓取组件（18）均具有两个且均设置在所述转动件（15）上，按照第一抓取组件（17）、第二抓取组件（18）、加料仓（16）、第二抓取组件（18）、第一抓取组件（17）和第二顶杆（19）的顺序依次设置在所述转动件（15）上；

所述加料仓（16）具有第一加料腔体（25）和第二加料腔体（26），所述加料仓（16）滑动后所述第一加料腔体（25）伸入所述第一进料通道（11）中，所述第二加料腔体（26）伸入所述第二进料通道（12）中。

2.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机，其特征在于，所述第一抓取组件（17）包括设置在所述转动件（15）上的第一伸缩件（20），所述第一伸缩件（20）的伸缩端上设置有与负压单元（21）连通的负压吸头（22），所述第一伸缩件（20）伸缩后所述负压吸头（22）作用在所述承托件（9）或所述端盖（13）上。

3.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机，其特征在于，所述第二抓取组件（18）包括设置在所述转动件（15）上的第二伸缩件（23），所述第二伸缩件（23）的伸缩端上对称设置有滑动设置的两个滑块（24），所述滑块（24）滑动后用于夹取所述加料模具（10）。

4.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机，其特征在于，所述第二加料腔体（26）的出料口处具有卡槽（27），所述加料仓（16）滑动后所述卡槽（27）卡入所述第一进料通道（11）的管壁（28）上。

5.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱分析干燥粉末试样压样机，其特征在于，所述上料组件（14）还包括振动件（29），设置在所述加料仓（16）的外壁上。