[发明专利]一种多脉冲冲击销毁Flash芯片系统及方法

说明书

本发明公开了一种多脉冲冲击销毁Flash芯片系统及方法，所述系统包括：脉冲发生电路，用于产生脉冲方波；电流监测电路，用于感应销毁电流，并对控制开关电路进行控制；控制开关电路，通过控制MOS管的通断，使脉冲方波反复作用于Flash芯片。还包括销毁电压，所述销毁电压将销毁电流注入Flash芯片电源引脚。本发明的系统所需的销毁电压低，只需系统常用的28V即可，简化了电路设计。具备电流监测功能，避免芯片完全销毁后产生的过流损坏控制电路。多芯片销毁过程中通过脉冲可以精准控制，不会出现错漏，提高了电路可靠性。

技术领域

本发明涉及多脉冲技术领域，特别是涉及一种多脉冲冲击销毁Flash芯片系统及方法。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。

现有芯片销毁电路多采用高电压持续供电的方法，通过芯片内部热积累达到使芯片失效的目的。为了减少热积累时间，往往还需要加入升压电路将电压升至80V或更高，电路设计复杂。芯片烧穿后电流急剧增大，可能导致控制电路覆铜烧毁等故障，在多芯片销毁过程时导致后续芯片不能有效烧毁，存在可靠性隐患。

因此亟需一种一种多脉冲冲击销毁Flash芯片系统。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出了一种多脉冲冲击销毁Flash芯片系统及方法，其能够通过脉冲控制，反复对芯片施加销毁电压，在芯片内部形成多条击穿通道，达到使芯片失效的目的。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

第一方面，本发明提供一种多脉冲冲击销毁Flash芯片系统，包括：

脉冲发生电路，用于产生脉冲方波；

电流监测电路，用于感应销毁电流，并对控制开关电路进行控制；

控制开关电路，通过控制MOS管的通断，使脉冲方波反复作用于Flash芯片。

进一步地，还包括销毁电压，所述销毁电压将销毁电流注入Flash芯片电源引脚。

进一步地，所述脉冲发生电路，包括脉冲发生器与移位寄存器。

进一步地，所述脉冲发生器产生方波后进入移位寄存器，生成循环选通信号。

进一步地，所述电流监测电路通过Rsc电阻感应销毁电流。

进一步地，所述电流监测电路通过Ctrl信号与Sel信号作用于控制开关电路。

进一步地，所述控制开关电路包括多个控制开关，通过循环选通控制开关，使Flash芯片循环接受脉冲冲击。

进一步地，所述控制开关由Ctrl信号与Sel信号通过或门共同作用。

进一步地，所述控制开关电路在Flash芯片销毁后断开销毁电压。

第二方面，本发明提供一种多脉冲冲击销毁Flash芯片方法，包括：

利用销毁电压将销毁电流注入Flash芯片电源引脚；

电流监测电路通过Rsc电阻感应销毁电流；

通过Ctrl信号与Sel信号对控制开关电路的多个控制开关进行循环选通控制，从而使Flash芯片循环接受脉冲冲击；

Flash芯片销毁后，由控制开关电路断开销毁电压。

与现有技术相比，本发明的有益效果为：

本发明的系统所需的销毁电压低，只需系统常用的28V即可，简化了电路设计。具备电流监测功能，避免芯片完全销毁后产生的过流损坏控制电路。多芯片销毁过程中通过脉冲可以精准控制，不会出现错漏，提高了电路可靠性。