[发明专利]一种红外焦平面阵列及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202111317545.1 申请日: 2021-11-08
公开(公告)号: CN114122182B 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 薛春来;徐国印;丛慧;徐驰 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/09 分类号: H01L31/09;H01L31/0236;H01L31/0224;H01L31/0216
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王文思
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 平面 阵列 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种红外焦平面阵列,其特征在于,包括:

图形衬底(200);

Ⅳ族材料外延层(300),生长于所述图形衬底(200)上;

钝化层(400),覆盖于所述Ⅳ族材料外延层(300)上,且设有第一电极孔和第二电极孔;

第一电极(10),设置于所述第一电极孔内,与所述图形衬底(200)相连接;

第二电极(20),设置于所述第二电极孔内,与所述Ⅳ族材料外延层(300)相连接;

抗氧化层(500),覆盖于所述钝化层(400)上,且设有通孔;

互联金属层(600),设置于所述通孔内。

2.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述图形衬底(200)的第一表面(210)上制备有预设图形;

所述预设图形包括满足预设深宽比的条状图形。

3.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述Ⅳ族材料外延层(300)包括至少一个像元凸起(310)和至少一个电极凸起(320);

所述像元凸起(310)之间通过所述图形衬底(200)连接,所述电极凸起(320)之间通过所述图形衬底(200)连接,所述像元凸起(310)和所述电极凸起(320)之间通过所述图形衬底(200)连接。

4.根据权利要求3所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述第二电极孔开设于每一个所述像元凸起(310)上。

5.根据权利要求3所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述第一电极(10)覆盖所有电极凸起(320)。

6.根据权利要求3所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述通孔设置于每一个所述像元凸起(310)和每一个所述电极凸起(320)上。

7.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述互联金属层(600)和所述第一电极(10)、所述第二电极(20)相连接。

8.根据权利要求2所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述Ⅳ族材料外延层(300)生长于所述第一表面(210)上。

9.根据权利要求2所述的红外焦平面阵列,其特征在于,所述第一电极(10)不与所述预设图形相接触。

10.一种红外焦平面阵列制备方法,其特征在于,适用于如权利要求1-9任一项所述的红外焦平面阵列,所述方法包括:

在衬底上制备带有预设图形的掩膜层,刻蚀后清洗掉所述掩膜层,得到图形衬底(200);

在所述图形衬底(200)上制备Ⅳ族材料外延层(300);

刻蚀带有Ⅳ族材料外延层(300)的图形衬底(200),得到具有至少一个像元凸起(310)和至少一个电极凸起(320)的Ⅳ族材料外延层(300);

在所述Ⅳ族材料外延层(300)上制备钝化层(400);

在所述钝化层(400)上制备第一电极孔和第二电极孔;

在所述钝化层(400)上制备第一电极(10)和第二电极(20);

在所述钝化层(400)上制备抗氧化层(500);

在所述抗氧化层(500)上以光刻胶为掩膜刻蚀得到通孔;

在所述通孔内制作互联金属层(600)。

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