[发明专利]一种高可靠IGBT模块芯片互连方法在审

专利信息
申请号: 202111188897.1 申请日: 2021-10-12
公开(公告)号: CN113972168A 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 孙晓峰;彭聪辉;陈滔;飞景明;向语嫣;李松玲;唐林江;陈雅容;张彬彬 申请(专利权)人: 北京卫星制造厂有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/367;H01L23/373
代理公司: 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 代理人: 延慧;武丽荣
地址: 100086*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 可靠 igbt 模块 芯片 互连 方法
【权利要求书】:

1.一种高可靠IGBT模块芯片互连方法,包括:

a、在IGBT模块的互连区域设计加工相适配的金属片状互连单元,对所述金属片状互连单元的焊接部分做搪锡处理,并进行清洗;

b、根据所述互连区域的尺寸裁剪焊料片、压平,并做等离子清洗处理;

c、将所述金属片状互连单元、所述焊料片和所述互连区域依次对准并固定;

d、采用焊接设备将所述金属片状互连单元将所述互连区域相连。

2.根据权利要求1所述的高可靠IGBT模块芯片互连方法,其特征在于,所述互连区域为IGBT模块中IGBT芯片、FRD芯片和DBC基板之间连接的部分。

3.根据权利要求1所述的高可靠IGBT模块芯片互连方法,其特征在于,所述步骤(c)分别在IGBT芯片、FRD芯片、DBC基板上依次贴装所述焊料片和所述金属片状互连单元并固定,使用焊接定位工装将所述金属片状互连单元的位置固定。

4.根据权利要求1所述的高可靠IGBT模块芯片互连方法,其特征在于,所述步骤(d)采用真空焊接工艺通过所述金属片状互连单元将所述互连区域相连。

5.根据权利要求1至4任一项所述的高可靠IGBT模块芯片互连方法,其特征在于,所述金属片状互连单元的形状为弧形。

6.根据权利要求5所述的高可靠IGBT模块芯片互连方法,其特征在于,所述金属片状互连单元的材料为铜。

7.根据权利要求6所述的高可靠IGBT模块芯片互连方法,其特征在于,所述铜片状互连单元的厚度为0.2mm。

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