[发明专利]一种用于晶圆多等级芯片的分类封装方法在审
| 申请号: | 202111176439.6 | 申请日: | 2021-10-09 |
| 公开(公告)号: | CN113921428A | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
| 发明(设计)人: | 刘传喜 | 申请(专利权)人: | 沛顿科技(深圳)有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;G06K9/00;G06K17/00;G06Q50/04 |
| 代理公司: | 东莞市中正知识产权事务所(普通合伙) 44231 | 代理人: | 徐康 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 晶圆多 等级 芯片 分类 封装 方法 | ||
1.一种用于晶圆多等级芯片的分类封装方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:对晶圆进行测试,对芯片划分等级,并生成分布图,同时在基板上刻有相应的二维码;
步骤二:将不同等级的芯片使用一个工单进行生产;
步骤三:投入在贴片工站,对所有芯片进行贴片操作,在此期间,记录基板每颗产品对应芯片的等级,生成基板地图;
步骤四:投入在刻字工站,根据上述步骤中的“基板地图”上对应不同的芯片等级,刻上不同的字符编号,以区分不同的芯片等级;
步骤五:利用分类机,根据不同的刻字内容,将不同的芯片分类;
步骤六:对分类后的不同等级的芯片进行外观检测,并进行包装;
步骤七:包装完成后,出货。
2.根据权利要求1所述的用于晶圆多等级芯片的分类封装方法,其特征在于,贴片工站的流程,包括以下步骤:
基板入料后,读取基板的二维码,获得对应等级芯片的分布图;
将上述基板与晶圆芯片进行贴片,并记录贴片的芯片等级;
将芯片等级与分布图对应,并生产基板地图,基板地图上显示各等级芯片;
将基板地图数据上传至服务器完成贴片。
3.根据权利要求1所述的用于晶圆多等级芯片的分类封装方法,其特征在于,刻字工站的流程,包括以下步骤:
基板入料后,读取基板的二维码,向服务器获取芯片的等级信息;
按基板地图的分布方式,对不同等级芯片刻不同批号内容和字符编号;
刻字完成。
4.根据权利要求1所述的用于晶圆多等级芯片的分类封装方法,其特征在于,外观检测分类流程,包括以下步骤:
将完成贴片和刻字的芯片入料;
利用光学字符识别系统的字符识别功能,识别芯片的分级信息,并生成分布图;
按照不同等级对应的字符对芯片进行挑选分类;
将每个等级的芯片分别分类到一起,完成分类。
5.根据权利要求3所述的用于晶圆多等级芯片的分类封装方法,其特征在于,用于不同等级芯片的刻字内容:不同等级的芯片按照A、B、C、D字母相应对应等级,A级为最优芯片,B级次之,依次类推,生成分布图后,每个等级用相应的颜色在基板地图上显示。
6.根据权利要求1所述的用于晶圆多等级芯片的分类封装方法,其特征在于,用于上述步骤三中基板地图的生成,所述基板地图由二维码追踪系统生成,所述基板地图以纵横比为6:15的矩形表格分布,并记录纵横队列中的芯片等级。
7.根据权利要求2所述的用于晶圆多等级芯片的分类封装方法,其特征在于,所述服务器为基板管理服务器,所述服务器与各个工站进行数据连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





