[发明专利]一种基于液晶显示面板的缺陷检测方法和系统

说明书

本发明提供一种基于液晶显示面板的缺陷检测方法和系统，所述方法包括：将待测液晶显示面板定位于检测位置处，开启光源并照射在待测液晶显示面板上；通过光学模组收集待测液晶显示面板的反射光，并将其聚焦在图像传感器上，由所述图像传感器进行图像采集并经过光电转换、模数转换，以形成原始数字图像；由预处理模块从所述图像传感器获取原始数字图像，并对原始数字图像进行图像倾斜校正以及光照不均校正处理，生成新的数字图像；由计算机获取新的数字图像并采用预设的缺陷检测算法进行图像识别以及缺陷检测，输出缺陷检测结果。本发明能够实现对液晶显示面板的智能化检测，并有效提升了检测效率和准确率。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种基于液晶显示面板的缺陷检测方法和系统。

背景技术

近年来，随着全球科学技术的迅速发展，全世界液晶显示及相关产业发展规模日益增大，TFT-LCD 及其相关产业的市场与生产制造商产业也随之不断地增加。最初，TFT-LCD 技术以日本技术为世界主导，随后，韩国与中国台湾也随之逐渐的发展起来，并且这些年来每年的增速成倍上升。而 TFT-LCD 以低成本、出众的体积优势、高解析度以及高亮度等优势逐步占据显示器的主导地位，普遍用于智能手机，台式与笔记本电脑、多媒体会议终端显示屏、智能手表、车载多媒体终端和家用智能电视等生活与办公领域。

随着TFT-LCD产业的不断发展，TFT-LCD的质量要求越来越高，因此在TFT-LCD制造过程中需要对TFT-LCD进行质量检测。传统的检测方式是人工检测，然而人工检测方式的检测精度和检测效率不高，并额外增加了人力成本。

发明内容

为了解决上述至少一个技术问题，本发明提出了一种基于液晶显示面板的缺陷检测方法和系统，能够实现对液晶显示面板的智能化检测，并有效提升了检测效率和准确率。

本发明第一方面提出了一种基于液晶显示面板的缺陷检测方法，所述方法包括：

将多个生产线同步生产的待测液晶显示面板分别定位于对应生产线上的检测位置处，开启光源并照射在待测液晶显示面板上；

通过光学模组收集待测液晶显示面板的反射光，并将其聚焦在图像传感器上，由所述图像传感器进行图像采集并经过光电转换、模数转换，以形成原始数字图像；

由预处理模块从多个生产线的图像传感器获取对应待测液晶显示面板的原始数字图像，并对各个原始数字图像进行图像倾斜校正以及光照不均校正处理，生成新的数字图像；

由计算机分别对多个新的数字图像进行图像识别分析处理，获取对应待测液晶显示面板的序列号；

由计算机对多个新的数字图像进行二值化处理，得到对应的二值化图像，并将多个二值化图像与对应待测液晶显示面板的序列号建立绑定关系；

将多个二值化图像按照预设的组合方式组合形成整合二值化图像，将所述整合二值化图像按照预设的缺陷检测算法进行计算处理，得到整合二值化图像的缺陷点；

基于整合二值化图像的缺陷点，并结合多个二值化图像与对应待测液晶显示面板的序列号之间的绑定关系，确定出对应待测液晶显示面板的缺陷检测结果。

本方案中，将多个二值化图像按照预设的组合方式组合形成整合二值化图像，具体包括：

预设一组合模型，所述组合模型包括多个组合区域，多个组合区域分别与多个生产线一一对应，预设多个组合区域为G1个；

将从多个生产线同步得到的多个二值化图像分别填充至对应的组合区域，待填充完成后，得到整合二值化图像。

本方案中，将所述整合二值化图像按照预设的缺陷检测算法进行计算处理，得到整合二值化图像的缺陷点，具体包括：

从所述整合二值化图像的多个二值化图像中随机选定G2个二值化图像作为模板二值化图像，且G2小于G1；