[发明专利]产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本申请公开了一种产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括步骤：获取待测产品的待测图片，并获取所述待测图片对应的样本图片；基于所述样本图片中的样本产品的对中数据，对所述待测图片进行对中处理，得到处理后待测图片；获取产品缺陷识别模型，并输入所述处理后待测图片至所述产品缺陷识别模型，得到产品缺陷识别结果；所述产品缺陷识别模型基于预设缺陷预设缺陷训练数据集对未训练产品缺陷识别模型进行迭代训练后得到。本申请使得待测图片进行缺陷识别所得到的缺陷识别结果更为准确，降低了识别产品的缺陷时的误差。

技术领域

本申请涉及深度学习技术领域，尤其涉及一种产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

目前，在对产品进行X光无损探伤时，在通过X光拍摄到的图片后，可以通过相应的检测算法自动从图片中识别到产品的缺陷，从而实现智能识别缺陷的目的。

然而，上述图片在输入检测算法时，产品的摆放角度各异，导致检测算法在自动识别缺陷时，受产品摆放角度的影响，使得识别产品的缺陷时误差较大。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决现有的如何降低识别产品的缺陷时的误差的技术问题。

为实现上述目的，本申请提供一种产品缺陷识别方法，所述产品缺陷识别方法包括步骤：

获取待测产品的待测图片，并获取所述待测图片对应的样本图片；

基于所述样本图片中的样本产品的对中数据，对所述待测图片进行对中处理，得到处理后待测图片；

获取产品缺陷识别模型，并输入所述处理后待测图片至所述产品缺陷识别模型，得到产品缺陷识别结果；所述产品缺陷识别模型基于预设缺陷预设缺陷训练数据集对未训练产品缺陷识别模型进行迭代训练后得到。

可选地，所述基于所述样本图片中的样本产品的对中数据，对所述待测图片进行对中处理，得到处理后待测图片，包括：

确定所述样本图片中的样本产品的对中数据为图片匹配模板；

基于所述图片匹配模板匹配所述待测图片，得到对中参数；

基于所述对中参数，调整所述待测图片，得到处理后待测图片，以使所述待测产品的摆放位置和角度与所述样本产品的摆放位置和角度相同。

可选地，所述获取产品缺陷识别模型之前，包括：

调整所述处理后待测图片的图片参数至预设图片参数。

可选地，所述获取产品缺陷识别模型之前，包括：

获取预设缺陷训练数据集和待训练产品缺陷识别模型；

基于所述预设缺陷训练数据集对所述待训练产品缺陷识别模型进行迭代训练，得到更新后的待训练产品缺陷识别模型，并确定所述更新后的待训练产品缺陷识别模型是否满足预设迭代结束条件；

若所述更新后的待训练产品缺陷识别模型满足所述预设迭代结束条件，则将所述更新后的待训练产品缺陷识别模型作为所述产品缺陷识别模型；

若所述更新后的待训练产品缺陷识别模型未满足所述迭代结束条件，则返回基于所述预设缺陷训练数据集对所述待训练产品缺陷识别模型进行迭代训练步骤，直至所述更新后的待训练产品缺陷识别模型满足所述迭代结束条件。

可选地，所述获取所述待测图片对应的样本图片，包括：

获取图片名与所述待测图片的图片名相对应的样本图片。

可选地，所述输入所述处理后待测图片至所述产品缺陷识别模型，得到产品缺陷识别结果之后，包括：

记录所述产品缺陷识别结果对应的一个或多个缺陷；