[发明专利]低锡含量ITO溅射靶材、制备方法及薄膜太阳能电池有效
申请号: | 202111006574.6 | 申请日: | 2021-08-30 |
公开(公告)号: | CN113735565B | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 周贤界;卢晓鹏;徐红星;黄勇彪 | 申请(专利权)人: | 深圳市众诚达应用材料科技有限公司 |
主分类号: | C04B35/457 | 分类号: | C04B35/457;C04B35/622;C04B35/626;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 | 代理人: | 林俭良 |
地址: | 518000 广东省深圳市光*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 含量 ito 溅射 制备 方法 薄膜 太阳能电池 | ||
本发明公开了一种低锡含量ITO溅射靶材、制备方法及薄膜太阳能电池制备方法,包括以下步骤:S1、制备氢氧化铟、氢氧化锡或氢氧化铟锡浓缩浆料,并加入表面活性剂进行均质处理;S2、将浓缩氢氧化物浆料进行喷雾干燥,获得氢氧化物粉体;S3、将氢氧化物粉体进行煅烧,获得氧化物粉体;S4、将煅烧后氧化物粉体与有机分散剂、粘结剂、消泡剂进行球磨混合,得到氧化物浆料;S5、将氧化物浆料进行喷雾造粒,获得氧化物造粒粉体;S6、将氧化物造粒粉体等静压成型获得靶材素坯;S7、将靶材素坯进行脱脂和高温烧结,获得低锡含量ITO溅射靶材。本发明制备的低锡含量ITO溅射靶材致密度高、晶粒细小、成分与组织分布均匀。
技术领域
本发明属于新能源领域,尤其是光电领域,具体涉及一种带有掺锡氧化铟(IndiumTin Oxide,ITO)膜层的光学材料及其制备方法,尤其涉及一种低锡含量ITO溅射靶材及其制备方法。
背景技术
随着使用需求的不断提升,对ITO制品的要求也越来越高。ITO制品的稳定性对其能够充分实现其功能不可或缺。通过现有技术制备的ITO制品稳定性不能满足日益增长的使用需求。特别地,现有ITO制品在方阻值方面不够稳定。方阻值在受到诸如温度、湿度的外界环境条件变化的影响时,会产生呈现无规律性变化,且变化量较大,例如在20Ω/sqr以上。
另外,在现有技术中,在制造带有ITO膜层的光学材料时通常需要在基板表面上设置介质膜层,在介质膜层设置ITO膜层,以及在ITO膜层上设置保护层。在这种情况下,制造带有ITO膜层的光学材料需要在多个膜层制造过程中制备多个膜层,因而,通常需要更多的制造设备和制造时间。因此,制造成本较高,生产效率较低。同时,由于采用了介质膜层,因而所使用的基板需要满足介质膜层的需求,导致基板材料受限制,只能满足具体光谱段的特性。
因此,本领域内需要对外界环境条件变化保持稳定性能的具有ITO膜层的光学材料以及制备方法。
近年来,虽然国内薄膜太阳能电池行业有了长足发展,但是电池发电成本相对火电、水电还有一定差距,需要对电池的各个组件性能以及各个组件之间的协调性再继续提高,从而进一步提高薄膜太阳能电池的综合性价比。透明导电层(TCO膜)作为HIT/HJT、CIGS、PSCs等薄膜太阳能电池的载流子收集传输层,要求其具有更高的迁移率、更低的载流子浓度、与非晶硅层及金属珊极之间具有更好的匹配度等。
由于薄膜太阳能电池一般采取低温镀膜制程,作为磁控溅射制作TCO层的主要原材料之低锡ITO溅射靶材,进一步要求其更高的纯度、致密度和均匀性。而对于锡元素/(铟元素+锡元素)小于5.00%的低锡含量的ITO溅射靶材,现有的技术、工艺很难做到同时兼顾高纯度、高致密和高均匀性。目前国内低锡含量ITO溅射靶材生产工艺,具有以下明显的不足,一是粉体中杂质离子不能清洗彻底,残留杂质离子在后续生产工艺过程中对靶材中铟、锡元素均匀性具有恶化影响,甚至杂质离子会进入到TCO薄膜中,直接影响到TCO薄膜的光电特性;二是粉体在制备过程中容易产生硬团聚,降低了造粒粉的性能和坯体的烧结活性,不利于烧结体的致密化,存在晶粒粗大、局部显气孔等缺陷;其次因为不同生产批次团聚体数量及状态存在的不确定性,也会严重影响到产品的生产稳定性和良率。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,提供一种提高密度及靶材内部材质分布均一性的低锡含量ITO溅射靶材的制备方法及制得的低锡含量ITO溅射靶材。
本发明进一步要解决的技术问题在于,提供一种导电性好、稳定、耐腐蚀、总体性能稳定的薄膜太阳能电池。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种低锡ITO溅射靶材及其制备方法的制备方法,包括以下步骤:
S1、氢氧化物浓缩浆料制备:
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