[发明专利]一种激光淬火质量监测方法及其应用在审
申请号: | 202110981622.7 | 申请日: | 2021-08-25 |
公开(公告)号: | CN113720841A | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 胡乾午;张瀛怀;曾晓雁;王邓志;任昭 | 申请(专利权)人: | 武汉飞能达激光技术有限公司;华中科技大学;武汉新瑞达激光工程有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;C21D11/00;C21D9/04;C21D1/18;C21D1/09 |
代理公司: | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人: | 石梦雅;张彩锦 |
地址: | 436070 湖北省鄂*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 淬火 质量 监测 方法 及其 应用 | ||
1.一种激光淬火质量监测方法,其特征在于,该方法具体为:
S1调节成像器件参数,使激光光斑和氧化物亮点在成像上能够进行区分;
S2待完成激光淬火后,利用所述成像器件获得激光加工区域的图像,并根据该图像确定氧化物亮点的占比面积;
S3判断步骤S2获得的氧化物亮点的占比面积是否满足预设条件,若是,则判定激光淬火质量合格,若否,则判定激光淬火质量不合格。
2.如权利要求1所述的激光淬火质量监测方法,其特征在于,步骤S1中,调节成像器件参数的方法包括调节成像器件的曝光量或者增加减光片。
3.如权利要求1所述的激光淬火质量监测方法,其特征在于,步骤S1中,所述成像器件为CCD传感器,该成像器件的监测方式为同轴监测式或旁轴监测式。
4.如权利要求1~3任一项所述的激光淬火质量监测方法,其特征在于,步骤S2中,对获得的图像进行二值化处理,获得灰度图像,并根据该灰度图像确定氧化物亮点的占比面积。
5.如权利要求4所述的激光淬火质量监测方法,其特征在于,步骤S2中,利用下式计算氧化物亮点的占比面积β,
β=P/S
式中,P为氧化物亮点的总面积,S为激光加工区域中淬火班的面积。
6.如权利要求4所述的激光淬火质量监测方法,其特征在于,步骤S3中,氧化物亮点的占比面积β的预设条件为B1≤β≤B2,B1的取值范围为0.1%~0.5%,B2的取值范围为3%~10%。
7.如权利要求1~6任一项所述的激光淬火质量监测方法在钢轨激光淬火中的应用。
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