[发明专利]存储器中感测电流的增大

权利要求书

1.一种设备(300)，其包括：

存储器(100、306)，其具有多个存储器单元(125)；及

电路系统(304)，其经配置以：

对在所述存储器的操作期间对所述存储器的所述存储器单元执行的编程操作的数目进行计数；及

在所述编程操作数目的所述计数达到阈值计数之后增大用于感测所述存储器的所述存储器单元的数据状态的电流(434)的量值。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述电路系统经配置以在所述编程操作数目的所述计数第二次达到所述阈值计数之后第二次增大用于感测所述存储器单元的所述数据状态的所述电流的所述量值。

3.根据权利要求1所述的设备，其中所述电路系统经配置以在所述编程操作数目的所述计数达到所述阈值计数之后增大所述阈值计数。

4.根据权利要求1所述的设备，其中所述电路系统经配置以在所述编程操作数目的所述计数达到所述阈值计数之后增大用于感测所述存储器单元的所述数据状态的所述电流的所述量值增大的量。

5.根据权利要求1所述的设备，其中所述电路系统经配置以：

在增大所述电流的所述量值之后使用所述电流感测所述存储器的数个所述存储器单元的所述数据状态；

确定与感测到的数据状态相关联的位错误率；及

在与所述感测到的数据相关联的所述位错误率满足或超过阈值位错误率之后增大所述电流的所述量值。

6.根据权利要求1所述的设备，其中所述多个存储器单元中的每一者是自选择存储器单元，其中单个材料用作选择元件及存储元件。

7.一种操作存储器(100、306)的方法，其包括：

对在存储器(100、306)的操作期间对所述存储器的存储器单元(125)执行的编程操作的数目进行计数；及

在所述编程操作数目在多次中的每一次达到阈值计数时增大用于感测所述存储器的所述存储器单元的数据状态的电流(434)的量值。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述阈值计数在所述多次中的每一者是相同阈值计数。

9.根据权利要求7所述的方法，其中用于感测所述存储器单元的所述数据状态的所述电流的所述量值在所述多次中的每一者增大相同量。

10.根据权利要求7所述的方法，其中所述方法包含在每次所述编程操作数目达到所述阈值计数时增大用于感测所述存储器单元的所述电流的所述量值增大的量。

11.根据权利要求7所述的方法，其中所述数据状态是：

第一数据状态，其与第一不对称阈值电压分布相关联，所述第一不对称阈值电压分布针对负极性的量值大于正极性；或

第二数据状态，其与第二不对称阈值电压分布相关联，所述第二不对称阈值电压分布针对所述正极性的量值大于所述负极性。

12.一种设备(300)，其包括：

存储器(100、306)，其具有多个存储器单元(125)；及

电路系统(304)，其经配置以：

通过将第一感测电压施加到所述多个存储器单元的一部分及在施加所述第一感测电压之后将第二感测电压施加到所述多个存储器单元的所述部分来感测存储于所述多个存储器单元的所述部分中的数据；

确定错误的感测到的数据的数量；及

在错误数据的所述数量满足或超过阈值数量之后增大用于感测存储于所述多个存储器单元的所述部分中的所述数据的电流(434)的量值。

13.根据权利要求12所述的设备，其中所述第一感测电压区分第一数据状态中的所述部分的存储器单元与第二数据状态中的所述部分的存储器单元。