[发明专利]一种用ECC实现OTP存储器检测的方法

说明书

本发明公开了一种用ECC实现OTP存储器检测的方法，属于存储器数据检查纠错技术领域，该检测方法具体步骤如下：(1)OTP第一个存储块数据载入；(2)对OTP存储块进行密钥匹配处校验，校验失败直接退出；(3)数据纠错；(4)进入下一个存储块数据的载入；本发明能够将OTP存储器内部存储单元分割成若干组OTP存储块，并开始进行ECC检测，可以总体上节省OTP的检测时间，提高存储器的检测效率，提高了OTP存储器的利用率，同时还能对OTP存储器的数据进行纠错，提高了芯片的良率。

技术领域

本发明涉及数据检查纠错技术领域，尤其涉及一种用ECC实现OTP存储器检测的方法。

背景技术

OTP存储器在经过编程后就不可再更改存储数据的存储器，而且这种存储器的存储数据在存储器掉电后仍可被保存，因为有这样的特性，OTP存储器主要用来存储系统芯片的可配置参数，所以OTP存储器存储数据的正确性是保证带有OTP存储器的系统芯片正常工作的关键因素，为了保证带有OTP存储器的系统芯片能正常工作，带有OTP存储器的系统芯片在提供给客户使用前必须通过各种各样的OTP存储器检测项，没有通过OTP存储器检测项的系统芯片就表示OTP有坏的数据位，不能提供给客户使用，而当OTP存储器的存储容量越大，OTP的测试时间就越长；因此，发明出一种用ECC实现OTP存储器检测的方法变得尤为重要；

现有的用ECC实现OTP存储器检测的方法只有在读出OTP存储器的整页数据后才开始做检测，这种检测方法会使得OTP存储器的检测时间很长，降低工作人员检测效率；此外，现有的用ECC实现OTP存储器检测的方法需要把OTP存储器的所有存储数据进行拷贝存储，这种检测方法大大降低了OTP存储器的利用率，浪费了OTP存储器的存储容量；为此，我们提出一种用ECC实现OTP存储器检测的方法。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺陷，而提出的一种用ECC实现OTP存储器检测的方法。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种用ECC实现OTP存储器检测的方法，该检测方法具体步骤如下：

(1)OTP第一个存储块数据载入：OTP存储器的控制器工作，实现存储块数据的载入，载入到存储器块的前3个存储器地址单元中。

(2)对OTP存储块进行密钥匹配处校验，校验失败直接退出：对OTP存储器中的第一个存储块数据进行校验，并对其进行密钥检测，如果校验失败则退出；

(3)数据纠错：对数据错位不超过1位的情况进行纠正。

(4)进入下一个存储块数据的载入：OTP存储器检测纠正完成，表示第一个存储块正常，控制器通过时序控制进去下一个存储块数据的载入和校验。

进一步地，步骤(1)所述OTP存储器数据载入按照分存储块的方式，OTP存储器块的4个存储器地址单元里，存储器块的前3个存储器地址单元是有效存储数据，存储器块的第4个存储器地址单元是存储器块的前3个有效存储数据的ECC校验码。

进一步地，步骤(1)中所述有序提取具体步骤如下：

S1：系统芯片开始检测OTP存储器的存储容量大小；

S2：OTP存储器的存储容量检测完成，并将其按照存储容量4*8将OTP存储器进行分割成若干组OTP存储块；

S3：分割完成，系统芯片记录OTP存储块总数并标记为N，OTP存储器中的控制逻辑子模块开始对OTP存储块的读写进行时序控制；

S4：系统芯片依据控制逻辑子模块设置的读写时序对OTP存储块进行有序提取，并将数据录入检测记录表中。

进一步地，步骤(2)中所述密钥检测具体步骤如下：