[发明专利]一种用ECC实现OTP存储器检测的方法

权利要求书

1.一种用ECC实现OTP存储器检测的方法，其特征在于，该检测方法具体步骤如下：

(1)OTP第一个存储块数据载入：OTP存储器的控制器工作，实现存储块数据的载入，载入到存储器块的前3个存储器地址单元中。

(2)对OTP存储块进行密钥匹配处校验，校验失败直接退出：对OTP存储器中的第一个存储块数据进行校验，并对其进行密钥检测，如果校验失败则退出；

(3)数据纠错：对数据错位不超过1位的情况进行纠正。

(4)进入下一个存储块数据的载入：OTP存储器检测纠正完成，表示第一个存储块正常，控制器通过时序控制进去下一个存储块数据的载入和校验。

2.根据权利要求1所述的一种用ECC实现OTP存储器检测的方法，其特征在于，步骤(1)所述OTP存储器数据载入按照分存储块的方式，OTP存储器块的4个存储器地址单元里，存储器块的前3个存储器地址单元是有效存储数据，存储器块的第4个存储器地址单元是存储器块的前3个有效存储数据的ECC校验码。

3.根据权利要求1所述的一种用ECC实现OTP存储器检测的方法，其特征在于，步骤(1)中所述有序提取具体步骤如下：

S1：系统芯片开始检测OTP存储器的存储容量大小；

S2：OTP存储器的存储容量检测完成，并将其按照存储容量4*8将OTP存储器进行分割成若干组OTP存储块；

S3：分割完成，系统芯片记录OTP存储块总数并标记为N，OTP存储器中的控制逻辑子模块开始对OTP存储块的读写进行时序控制；

S4：系统芯片依据控制逻辑子模块设置的读写时序对OTP存储块进行有序提取，并将数据录入检测记录表中。

4.根据权利要求1所述的一种用ECC实现OTP存储器检测的方法，其特征在于，步骤(2)中所述密钥检测具体步骤如下：

SS1：开始启动相关系统，系统芯片中的计数器开始进行数据记录，并标记为i，系统芯片开始载入第一个OTP存储块，同时计数器中i＝i+1，其中，i为自然数，i初始值为0；

SS2：系统芯片开始对第一个OTP存储块中存储的密钥数据匹配；

SS3：若匹配成功，OTP存储器中的ECC引擎子模块开始对该存储块进行检测判断，其检测判断具体步骤如下：

Q1：若该OTP存储块中的密钥存在不小于2位数的ECC校验码数据错误，系统芯片停止继续载入OTP存储器中存储的数据，同时系统芯片将载入信息录入检测记录表对应位置；

Q2：若该OTP存储块中的密钥不存在不小于2位数的ECC校验码数据错误，ECC引擎子模块开始通过ECC校验码对其进行1位数据错位的纠错，同时将载入信息以及纠错信息录入检测记录表对应位置；

SS4：若匹配失败，系统芯片停止继续载入OTP存储器中存储的数据，同时系统芯片将载入信息录入检测记录表对应位置。

5.根据权利要求4所述的一种用ECC实现OTP存储器检测的方法，其特征在于，步骤(3)中所述检测纠错具体步骤如下：

P1：系统芯片开始对后续OTP存储块进行有序提取，同时计数器中的i＝i+(n-1)，其中，在SS1中i的值已变为1，n为系统芯片提取的OTP存储块数量；

P2：OTP存储器中的ECC引擎子模块开始对该存储块进行检测；

P3：若检测出OTP存储块的数据存在不小于2位数的ECC校验码数据错误，系统芯片停止继续载入OTP存储器中存储的数据，同时系统芯片将载入信息录入检测记录表对应位置；

P4：若该OTP存储块中的密钥不存在不小于2位数的ECC校验码数据错误，ECC引擎子模块开始通过ECC校验码对其进行1位数据错位的纠错，同时将载入信息以及纠错信息录入检测记录表对应位置；

P5：计数器开始对比i与N，若i＜N，则系统芯片继续提取后续OTP存储块；

P6：若i＝N，系统芯片退出OTP存储器数据载入。