[发明专利]一种FPGA内核可编程仿真器在审
申请号: | 202110962803.5 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113673106A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 林龙;史存存;卢卫疆;万能;柴宏博 | 申请(专利权)人: | 全球能源互联网研究院有限公司;国网安徽省电力有限公司检修分公司;国家电网有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F15/78 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 李静玉 |
地址: | 102209 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 fpga 内核 可编程 仿真器 | ||
1.一种FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,包括:驱动器及运行时,其中,
所述运行时连接于所述驱动器与主机之间,所述驱动器内置至少一个被测FPGA内核,所述驱动器对全部的FPGA内核进行包装;
当所述FPGA内核可编程仿真器启动时,主机向所述运行时发送第一控制信号,通过调用所述运行时中的仿真器对被测FPGA内核及驱动器进行仿真;
当所述FPGA内核可编程仿真器运行时,所述运行时将主机发送的第二控制信号至所述驱动器,并根据第二控制信号,向所述驱动器发送命令,被测FPGA内核根据接收的命令进行计算,并通过运行时向主机返回相应的计算结果。
2.根据权利要求1所述的FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,所述驱动器包括:DRAM仿真器、封装壳、AXI协议接口,其中,
所述封装壳用于对全部的所述被测FPGA内核进行封装,所述封装壳与所述AXI协议接口及所述运行时连接,在对被测FPGA内核进行测试时,所述封装壳用于实现所述被测FPGA内核与所述运行时之间、所述被测FPGA内核与所述AXI接口之间的信息通讯;
所述DRAM仿真器通过调用运行时库中的仿真器对DRAM代码进行仿真,为FPGA内核仿真提供相应的数据存取功能;
所述AXI协议接口连接于封装壳及所述DRAM仿真器之间,用于传输从所述DRAM仿真器中读取的数据及要写入所述DRAM仿真器中的数据。
3.根据权利要求1所述的FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,所述运行时的仿真器为RTL仿真器,RTL仿真器由高抽象级别的FPGA内核通过高抽象级别的开发套件生成。
4.根据权利要求2所述的FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,还包括:
分别与驱动器、运行时连接的调试器,所述调试器用于通过运行时将调试信号及调试数据对所述被测FPGA内核进行调试,并根据运行时返回的结果检查并输出被测FPGA内核操作的正确性;监测DRAM仿真器的数据存储情况、从AXI协议接口的AXI总线读取的被测FPGA内核和AXI总线的状态;分析从AXI总线读取的被测FPGA内核和AXI总线的状态,并可视化特定变量和DRAM仿真器地址的活动。
5.根据权利要求4所述的FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,所述调试器包括:测试器、监视器及性能分析器,其中,
所述测试器与运行时连接,所述测试器用于通过运行时将调试信号及调试数据对所述被测FPGA内核进行调试,并根据运行时返回的结果检查并输出被测FPGA内核操作的正确性;
所述监视器分别与AXI协议接口、DRAM仿真器连接,用于监测DRAM仿真器的数据存储情况、从AXI总线读取的被测FPGA内核和AXI总线的状态;
所述性能分析器与所述监视器连接,用于分析从AXI总线读取的被测FPGA内核和AXI总线的状态,并可视化特定变量和DRAM仿真器地址的活动。
6.根据权利要求5所述的FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,所述测试器为:Peek-poke测试器。
7.根据权利要求5所述的FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,所述监视器包括:
与所述DRAM仿真器连接的DRAM监视器,用于监测DRAM仿真器的数据存储情况;
与所述AXI协议接口连接的AXI监视器,用于监测从AXI总线读取的被测FPGA内核和AXI总线的状态。
8.根据权利要求1所述的FPGA内核可编程仿真器,其特征在于,还包括:连接于所述驱动器与所述运行时之间的数据接口。
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