[发明专利]一种亚像素定位方法、定位系统及存储介质

说明书

本申请涉及图像处理技术领域，尤其是涉及一种亚像素定位方法、定位系统及存储介质。其中亚像素定位方法包括：设计具有周期性显示的定位图、将定位图映射显示于待测品、通过高分辨率相机采集显示于待测品的定位图的图像画面、对图像画面进行预处理以及计算获取图像画面中特征信息的第一特征坐标，通过显示于待测品的具有不同的特征信息的定位图，并对包含特征信息的定位图进行分析，可以有效的将异常信息剔出，由此可提高特征信息的像素定位精度。而且还可通过改进凸包算法排除区别于特征信息的异常点；并根据凸包算法等计算出的特征信息的特征坐标，采用插值算法计算像素坐标。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其是涉及一种亚像素定位方法、定位系统及存储介质。

背景技术

采用光学检测设备对显示屏面板、PCB板等产品进行检测，便于对存在缺陷不良等目标图形的产品进行分析、修复等操作，以提高产品的生产良品率。检测时，将通过光学采样获取的图形画面进行传统图像处理，计算获取可显示于待测品的目标图形的位置。其中传统图像处理方式有高斯降噪图像处理、均匀性增强图像处理、二值化图像处理或形态学处理等。

但获取的图形画面容易受检测环境干扰，图形画面中容易出现区别于目标图形的异常信息，比如目标图形可能出现多异常点问题，采用传统图像处理方式获取的目标图形容易包括异常点，影响目标图形的定位精度。

发明内容

为了提高目标图形的定位精度，本申请提供一种亚像素定位方法。

第一方面，本申请提供的一种亚像素定位方法，采用如下的技术方案：

一种亚像素定位方法，包括：

根据待测品的特性，设计定位图；所述定位图包括特征信息；所述特征信息为以第一纯色画面为背景，并规则阵列分布第二纯色图形；所述第一纯色画面与所述第二纯色图形的颜色不同；所述第二纯色图形按周期分布至少有两种；

映射定位图，使定位图显示于待测品；

获取显示于待测品的定位图的图像画面；

对图像画面进行预处理；

计算获取图像画面中特征信息的第一特征坐标；

根据第一特征坐标，计算获取像素坐标。

通过采用上述技术方案，像素是面阵摄像机成像面的最小单位，像相邻素中心之间的距离有几个至十几个微米不等。为了最大限度利用图像信息来提高分辨率，在微观上定义两个物理像素之间的存有亚像素，亚像素是通过计算方法得出的。亚像素精度是指相邻两像素之间细分情况。因此通过计算亚像素的像素坐标，可以改善特征信息的定位精度。

本申请亚像素定位方法中具有不同特征信息中至少有两种第二纯色图形，不同定位图周期性显示，可使存在于待测品的缺陷不良等目标图形得以显示清楚。

通过显示于待测品的具有不同的特征信息的定位图，并对这些定位图结合进行分析，可以有效的将异常点剔除出图像画面，并借助定位图中的特征信息计算获取第一特征坐标，通过第一特征坐标进一步计算包括目标图形的像素坐标，由此可提高特目标图形的像素定位精度。

可选的，其中一种所述第二纯色图形中心为单色单亮点或者为中心间隔分布两种颜色单点。

通过采用上述技术方案，单色单亮点的第二纯色图形与中心间隔分布两种颜色单点的第二纯色图形，均与第一纯色画面均有明显区别，有助于使存在于待测品的缺陷不良等目标图形显示，并在获取的图像画面中清楚显现；而且规律分布的第二纯色图形有助于计算获取第一坐标。

可选的，其中一种所述第二纯色图形中心为单色单亮点，另一种所述第二纯色图形中心间隔分布两种颜色单点。

通过采用上述技术方案，其中两种第二纯色图形为中心为单色单亮点和中心间隔分布两种颜色单点，差异较小，可使区别于目标图形的异常点显现区别；而且至少两种不同的第二纯色图形规律分布，可提高通过第一特征坐标的计算获取效率