[发明专利]n-i结构钙钛矿基X光探测器及其制备方法在审
申请号: | 202110897195.4 | 申请日: | 2021-08-05 |
公开(公告)号: | CN113823740A | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 薛冬峰;李云龙;王晓明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
主分类号: | H01L51/42 | 分类号: | H01L51/42;H01L51/48;H01L51/46 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 曹柳 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 钙钛矿基 探测器 及其 制备 方法 | ||
1.一种n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述n-i结构钙钛矿基X光探测器包括叠层贴合设置的n型钙钛矿功能层和i型钙钛矿活性层;所述n型钙钛矿功能层中包含APbBr3钙钛矿材料,所述i型钙钛矿活性层中包含A’PbI3钙钛矿材料,其中,A和A’分别独立的选自碱金属离子或者有机铵离子。
2.如权利要求1所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述有机铵离子包括:CH3NH3+、CH2(NH3)2+中的至少一种;
和/或,所述碱金属离子包括:Cs+、Rb+中的至少一种。
3.如权利要求2所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述A和所述A’分别独立的选自:CH3NH3+、CH2(NH3)2+、Cs+或者Cs+和Rb+。
4.如权利要求1~3任一项所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述n型钙钛矿功能层的厚度为15~25μm;
和/或,所述i型钙钛矿活性层的厚度为100~1000μm。
5.一种n-i结构钙钛矿基X光探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取导电基底,在所述导电基底表面制备第一功能层;
在所述第一功能层背离所述导电基底的表面制备第二功能层;
在所述第二功能层背离所述第一功能层的表面制备背电极,得到n-i结构钙钛矿基X光探测器;
其中,所述第一功能层和所述第二功能层不同,分别为n型钙钛矿功能层或i型钙钛矿活性层,所述n型钙钛矿功能层中包含APbBr3钙钛矿材料,所述i型钙钛矿活性层中包含A’PbI3钙钛矿材料,其中,A和A’分别独立的选自碱金属离子或者有机铵离子。
6.如权利要求5所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器的制备方法,其特征在于,所述第一功能层为所述n型钙钛矿功能层,制备所述n型钙钛矿功能层的步骤包括:将溴化铵盐或者溴化碱金属盐与溴化铅、表面活性剂和第一有机试剂混合处理,得到第一钙钛矿溶液;
将所述第一钙钛矿溶液沉积在所述导电基底表面,进行第一次干燥退火,形成所述n型钙钛矿功能层。
7.如权利要求6所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器的制备方法,其特征在于,所述第二功能层为所述i型钙钛矿功能层,制备所述i型钙钛矿功能层的步骤包括:将碘化铵盐或者碘化碱金属盐与碘化铅、导电高分子粘合剂和第二有机试剂混合处理,得到第二钙钛矿浆料;
将所述第二钙钛矿浆料沉积在所述第一功能层表面,进行第二次干燥退火,形成所述i型钙钛矿功能层。
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