[发明专利]n-i结构钙钛矿基X光探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110897195.4 申请日: 2021-08-05
公开(公告)号: CN113823740A 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 薛冬峰;李云龙;王晓明 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;H01L51/48;H01L51/46
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 曹柳
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 结构 钙钛矿基 探测器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述n-i结构钙钛矿基X光探测器包括叠层贴合设置的n型钙钛矿功能层和i型钙钛矿活性层;所述n型钙钛矿功能层中包含APbBr3钙钛矿材料,所述i型钙钛矿活性层中包含A’PbI3钙钛矿材料,其中,A和A’分别独立的选自碱金属离子或者有机铵离子。

2.如权利要求1所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述有机铵离子包括:CH3NH3+、CH2(NH3)2+中的至少一种;

和/或,所述碱金属离子包括:Cs+、Rb+中的至少一种。

3.如权利要求2所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述A和所述A’分别独立的选自:CH3NH3+、CH2(NH3)2+、Cs+或者Cs+和Rb+

4.如权利要求1~3任一项所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器,其特征在于,所述n型钙钛矿功能层的厚度为15~25μm;

和/或,所述i型钙钛矿活性层的厚度为100~1000μm。

5.一种n-i结构钙钛矿基X光探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取导电基底,在所述导电基底表面制备第一功能层;

在所述第一功能层背离所述导电基底的表面制备第二功能层;

在所述第二功能层背离所述第一功能层的表面制备背电极,得到n-i结构钙钛矿基X光探测器;

其中,所述第一功能层和所述第二功能层不同,分别为n型钙钛矿功能层或i型钙钛矿活性层,所述n型钙钛矿功能层中包含APbBr3钙钛矿材料,所述i型钙钛矿活性层中包含A’PbI3钙钛矿材料,其中,A和A’分别独立的选自碱金属离子或者有机铵离子。

6.如权利要求5所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器的制备方法,其特征在于,所述第一功能层为所述n型钙钛矿功能层,制备所述n型钙钛矿功能层的步骤包括:将溴化铵盐或者溴化碱金属盐与溴化铅、表面活性剂和第一有机试剂混合处理,得到第一钙钛矿溶液;

将所述第一钙钛矿溶液沉积在所述导电基底表面,进行第一次干燥退火,形成所述n型钙钛矿功能层。

7.如权利要求6所述的n-i结构钙钛矿基X光探测器的制备方法,其特征在于,所述第二功能层为所述i型钙钛矿功能层,制备所述i型钙钛矿功能层的步骤包括:将碘化铵盐或者碘化碱金属盐与碘化铅、导电高分子粘合剂和第二有机试剂混合处理,得到第二钙钛矿浆料;

将所述第二钙钛矿浆料沉积在所述第一功能层表面,进行第二次干燥退火,形成所述i型钙钛矿功能层。

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