[发明专利]开关状态检测方法、电子装置和存储介质在审
申请号: | 202110858199.1 | 申请日: | 2021-07-28 |
公开(公告)号: | CN113674352A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 李夏霖;李宁钏;孙海涛 | 申请(专利权)人: | 浙江大华技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/73 | 分类号: | G06T7/73;G06T15/20;G06K9/62 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 周长梅 |
地址: | 310016 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 开关 状态 检测 方法 电子 装置 存储 介质 | ||
1.一种开关状态检测方法,其特征在于,包括:
对包含待处理开关的待检测图像进行特征提取,得到所述待处理开关的多个第一类型特征点;
获取所述待检测图像和参照图像之间的透视变换矩阵,基于所述待检测图像和参照图像之间的透视变换矩阵,对所述多个第一类型特征点进行透视变换处理,得到预设视角下的多个第一类型特征点,其中,所述参照图像包含在预设视角下待处理开关的图像;
基于矫正后的所述多个第一类型特征点确定所述待处理开关的位姿,根据所述待处理开关的位姿确定所述待处理开关的状态。
2.根据权利要求1所述的开关状态检测方法,其特征在于,基于矫正后的所述多个第一类型特征点确定所述待处理开关的位姿包括:
根据矫正后的所述多个第一类型特征点确定目标对象;
确定参照对象,计算所述目标对象与所述参照对象之间的位置关系,根据所述目标对象与所述参照对象之间的位置关系确定所述待处理开关的位姿。
3.根据权利要求2所述的开关状态检测方法,其特征在于,所述待处理开关包括带有手柄的旋转式开关,所述多个第一类型特征点包括所述手柄的第一端点和第二端点;基于矫正后的所述多个第一类型特征点确定所述待处理开关的位姿包括:
连接所述第一端点和所述第二端点,得到所述目标对象;
以其中一端点为原点建立参照坐标系,以所述参照坐标系中某一坐标轴作为所述参照对象,基于所述目标对象相对于所述参照对象的倾角确定所述待处理开关的位姿。
4.根据权利要求2所述的开关状态检测方法,其特征在于,所述待处理开关包括空气式开关,所述空气式开关包括手柄和门孔,所述多个第一类型特征点包括所述手柄的第一端点和第二端点,以及所述门孔的中心点;基于矫正后的所述多个第一类型特征点确定所述待处理开关的位姿包括:
连接所述第一端点和所述第二端点,得到所述目标对象;
以所述门孔的中心点为原点建立参照坐标系,以所述参照坐标系中的水平轴作为所述参照对象,基于所述目标对象相对于所述参照对象的平移位移量确定所述待处理开关的位姿。
5.根据权利要求1所述的开关状态检测方法,其特征在于,在基于矫正后的所述多个第一类型特征点确定所述待处理开关的位姿,根据所述待处理开关的位姿确定所述待处理开关的状态之前,所述方法还包括:
获取所述待处理开关的多个状态信息,以及获取所述待处理开关处于各状态时的位姿;
存储所述待处理开关的多个状态信息与位姿之间的映射关系。
6.根据权利要求1所述的开关状态检测方法,其特征在于,获取所述待检测图像和参照图像之间的透视变换矩阵包括:
对包含待处理开关的待检测图像进行特征提取,得到所述待处理开关的多个第二类型特征点,其中,所述第二类型特征点与所述第一类型特征点存在相对偏移;
获取所述参照图像的第二类型特征点;
将所述待检测图像的第二类型特征点和所述参照图像的第二类型特征点进行匹配,得到相匹配的第二类型特征点对;
根据所述相匹配的第二类型特征点对确定所述待检测图像与所述参照图像之间的透视变换矩阵。
7.根据权利要求6所述的开关状态检测方法,其特征在于,对包含待处理开关的待检测图像进行特征提取包括:
对所述待检测图像进行以所述待处理开关为目标的目标检测,得到目标对象;
确定所述目标对象的中心点,以及确定所述目标对象中与所述中心点存在相对偏移的非中心点;
根据所述目标对象的中心点和所述非中心点得到所述第一类型特征点和所述第二类型特征点。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大华技术股份有限公司,未经浙江大华技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110858199.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电子设备
- 下一篇:一种硅光子pin结光衰减结构