[发明专利]脉冲信号宽度测量装置、方法、系统和介质

说明书

提供脉冲信号宽度测量装置、方法、系统和介质。该装置包括：缓冲器链路，包括N个第一缓冲器、一输入端连接脉冲信号且另一输入端连接相应第一缓冲器的输出的N个第一与门、和与每个第一与门的输出端耦合的相应的N个触发器，而且N个第一缓冲器首尾相连；路径时延调节电路，其中路径时延调节电路的输入端接收脉冲信号，路径时延调节电路的输出端连接到第一个缓冲器的输入端；控制装置，在每次调节时根据预设调节步长控制路径时延调节电路产生的延时从预设时延减少至少一个预设调节步长，直到第P个触发器的输出改变；测量装置，至少根据各个触发器的输出端输出的结果和每个第一缓冲器的延时、路径时延调节电路的延时，来测量脉冲信号的宽度。

技术领域

本申请涉及集成电路领域，且更具体地，涉及用于测量关键路径的时延的脉冲信号宽度测量装置、方法、系统和介质。

背景技术

现代集成电路在制造过程中会受到工艺偏差的影响，导致不同成品之间性能有所差异，例如有些集成电路可以在3GHz的频率下运行，而有些集成电路只能在2.8GHz下运行。集成电路运行速度通常由芯片内部的关键路径时延决定。关键路径一般是集成电路内部时延最长的一批路径。为了对集成电路进行性能标定，可以在出厂测量中，直接测量集成电路关键路径的时延，测量可以使用时间-数字转化电路。

此外，集成电路在运行过程中，由于受到老化、温度、供电电压的影响，集成电路内部路径的时延也会随之发生波动，可能使得集成电路中某些关键路径的时延超过时钟周期，导致集成电路运行发生错误。

因此需要对集成电路中某些关键路径的时延进行准确的测量。

发明内容

根据本申请的一个方面，提供一种脉冲信号宽度测量装置，包括：缓冲器链路，包括N个第一缓冲器、一个输入端连接脉冲信号且另一个输入端连接相应第一缓冲器的输出的N个第一与门、和与每个第一与门的输出端耦合的相应的N个触发器，而且所述N个第一缓冲器各自的输出端与下一第一缓冲器的输入端相连接，其中N是大于1的正整数；路径时延调节电路，其中所述路径时延调节电路的输入端接收脉冲信号，所述路径时延调节电路的输出端连接到缓冲器链路中的第一个缓冲器的输入端；控制装置，在每次调节时根据预设调节步长控制所述路径时延调节电路产生的延时从预设时延减少至少一个预设调节步长，直到第P个触发器的输出改变，其中P是正整数且小于或等于N；测量装置，连接到各个触发器的输出端和所述控制装置，且至少根据各个触发器的输出端输出的结果和每个第一缓冲器的延时、就在第P个触发器的输出改变之前的所述路径时延调节电路的延时，来测量所述脉冲信号的宽度。

根据本申请的另一个方面，提供一种脉冲信号宽度测量装置的脉冲信号宽度测量方法，其中所述脉冲信号宽度测量装置包括：缓冲器链路，包括N个第一缓冲器、一个输入端连接脉冲信号且另一个输入端连接相应第一缓冲器的输出的N个第一与门、和与每个第一与门的输出端耦合的相应的N个触发器，而且所述N个第一缓冲器各自的输出端与下一第一缓冲器的输入端相连接，其中N是大于1的正整数；路径时延调节电路，其中所述路径时延调节电路的输入端接收脉冲信号，所述路径时延调节电路的输出端连接到缓冲器链路中的第一个缓冲器的输入端；其中所述脉冲信号宽度测量方法包括：在每次调节时根据预设调节步长控制所述路径时延调节电路产生的延时从预设时延减少至少一个预设调节步长，直到第P个触发器的输出改变，其中P是正整数且小于或等于N；至少根据各个触发器的输出端输出的结果和每个第一缓冲器的延时、就在第P个触发器的输出改变之前的所述路径时延调节电路的延时，来测量所述脉冲信号的宽度。

根据本申请的另一个方面，提供一种计算机系统，包括：处理器；存储器，耦合于处理器，且在其中存储计算机可执行指令，用于在由处理器执行时进行脉冲信号宽度测量方法。

根据本申请的另一个方面，提供一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其中，所述程序被处理器执行时实现脉冲信号宽度测量方法。