[发明专利]一种工件轴向尺寸测量的装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202110709890.3 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN113432562A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 陈祝;高建;孔德杰;赵刚;侯熙硕;叶明;李莉;刘天 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七0七研究所
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 刘英梅
地址: 300131 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 工件 轴向 尺寸 测量 装置 及其 使用方法
【说明书】:

发明涉及一种工件轴向尺寸测量装置及其使用方法,装置包括高度仪、高度仪固定块、平面支架和支柱;高度仪固定块为长方形块,在其厚度和高度方向分别设有一安装通孔,高度仪通过其测量杆套与其中一安装通孔插装固定;平面支架由顶盘和同轴设置在顶盘下端的阶梯轴构成,沿圆周方向在顶盘及阶梯轴的大直径轴上均布设有可供高度仪的测量杆通过的径向开孔;顶盘的下端及大直径轴下端在四个径向开孔之间的位置均设有一凸台,在每处凸台中心位置均设有螺纹孔;支柱为设有中心螺钉孔的柱状结构,每个规格长度的支柱为四个,四个支柱通过螺钉与顶盘的下端的四处凸台或大直径轴下端的四处凸台固连。本发明提高了测量精度,具有较好的适用性。

技术领域

本发明属于机械计量技术领域,涉及测量用辅助工具及方法,具体涉及一种工件轴向尺寸测量装置及其使用方法。

背景技术

目前,测量多轴产品轴向尺寸的方法为深度尺辅以四棱平尺,如果需要测量的尺寸附近位置有精度较高且面积较大的基准面,可直接选择深度尺测量轴向尺寸。但是,需要测量的尺寸附近位置无可利用的精度较高或面积较大的基准面,可借助四棱平尺为深度尺提供测量基准面。尽管深度尺辅以四棱平尺可以完成轴向尺寸的测量,但是,这个测量方法中存在4个明显的弊端:(1)深度尺辅以四棱平尺的测量方法中需要至少两人配合操作,一人控制四棱平尺,确保四棱平尺提供的测量基准的稳定性,另一个人利用深度尺测量轴向的尺寸,因此,单人无法操作此轴向尺寸的测量方法;(2)此方法测量效率较低,尤其对于空间狭小的位置,此方法找到合适的位置比较困难,且耗时较多;(3)此方法的测量精度受深度尺精度的影响为0.01mm,测量精度较低;(4)深度尺需要较大的按压力以确保深度尺完全贴合基准面,从而导致工件或者工装变形叫大,导致测量结果的重复性较差,因此此方法需要多次测量来确保测量结果的准确性。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足之处,提供一种测量精度高、适用范围广、可靠性高、测量重复性好、可且节省测量人力的用于轴向尺寸测量的装置及其使用方法。

本发明的上述目的之一通过如下技术方案来实现:

一种工件轴向尺寸测量装置,其特征在于:包括高度仪、高度仪固定块、平面支架和支柱;

所述高度仪用于轴向尺寸测量,其灵敏度为0.001mm;

所述高度仪固定块用于固定高度仪,其为长方形块,在长方形块的厚度和高度方向分别设置有一安装通孔,两安装通孔处分别连通设置有一径向顶丝孔;所述高度仪以可选择的方式通过其测量杆套与其中一安装通孔通过紧定螺钉可拆卸式插装固定配合;在高度仪的测量杆套与高度仪固定块的的厚度方向的安装通孔插装配合时,使高度仪固定块处于第一安装姿态,在高度仪的测量杆套与高度仪固定块的的高度方向的安装通孔插装配合时,使高度仪固定块处于第二装姿态;

所述平面支架用于支撑定位高度仪固定块,其由顶盘和同轴设置在顶盘下端的阶梯轴构成,沿圆周方向在顶盘及阶梯轴的大直径轴上均布设置有可供高度仪的测量杆通过的径向开孔;在顶盘的下端及大直径轴的下端在四个径向开孔之间的位置均设置有一凸台,凸台下端面的平面度为0.002mm,在每处凸台的中心位置均设置有一用于连接支柱的螺纹孔;

所述支柱用于将装置支撑于测量件本体的基准平面上或测量件的外围平台上;所述支柱为设置有中心螺钉孔的柱状结构,包含多个长度规格的支柱,每个规格长度的支柱为四个,四个支柱通过螺钉与顶盘的下端的四处凸台或大直径轴下端的四处凸台固定连接。

本发明的上述目的之二通过如下技术方案来实现:

一种工件轴向尺寸测量装置的使用方法,其特征在于,基于上述的测量装置,包括如下步骤:

步骤1、首先根据所测量的轴向尺寸长短选择高度仪固定块的安装姿态,若所测量的轴向尺寸长,选择第一安装姿态;若所测量的轴向尺寸短,选择第二安装姿态;利用紧定螺钉将高度仪与高度仪固定块紧固在一起。

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