[发明专利]一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法及装置

说明书

本发明公开一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法及装置，方法包括：获取岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像；对所述微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行预处理；建立微观电镜扫描图像中预处理后的岩石矿颗粒的等效椭圆模型，其中，所述等效椭圆模型的面积与预处理后的所述岩石矿颗粒的面积相等；根据所述等效椭圆模型，对岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像进行等效替换，并计算出所述岩石矿颗粒的发育特征参数。本发明解决了现有技术中因人工观测主观干预大、导致岩矿颗粒的发育分析结果不准确的技术问题。

技术领域

本发明涉及石油勘探技术领域，具体涉及一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

岩石储层主要由矿物颗粒所组成，矿物颗粒的粒径大小、排列规则、组合关系、展布特征、延展方向等会对岩石整体的物性特征产生重要影响。目前对于岩石储层微观结构的观测主要基于电镜图像分析技术，受限于目前尚缺乏电镜图像中直接定量且客观地获取表征岩矿颗粒发育、展布特征的技术方法，目前只能基于人工观测和分析来定性研究岩矿颗粒的发育特征，但是由于人工观测图像的主观干预影响较大，导致岩矿颗粒的发育分析结果不准确，无法合理对岩石压裂改造提供支持以及合理的预测分析油。

发明内容

本发明的目的在于克服上述技术不足，提供一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法、装置、设备及存储介质，解决现有技术中因人工观测主观干预大、导致岩矿颗粒的发育分析结果不准确的技术问题。

为达到上述技术目的，本发明采取了以下技术方案：

第一方面，本发明提供一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法，包括如下步骤：

获取岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像；

对所述微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行预处理；

建立微观电镜扫描图像中预处理后的岩石矿颗粒的等效椭圆模型，其中，所述等效椭圆模型的面积与预处理后的所述岩石矿颗粒的面积相等；

根据所述等效椭圆模型，对岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像进行等效替换，并计算出所述岩石矿颗粒的发育特征参数。

优选的，所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法中，所述对所述微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行预处理的步骤具体包括：

对所述微观电镜扫描图像进行比例尺标定；

对比例尺标定后的微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行边缘锐化处理。

优选的，所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法中，所述等效椭圆模型的长轴为岩石矿颗粒最长的径长，所述长轴的方向与岩石矿颗粒最长的径长的方向一致，所述等效椭圆模型的短轴与所述长轴垂直，所述等效椭圆模型的短轴的长度基于预设的椭圆模型构建公式求得。

优选的，所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法中，所述椭圆模型构建公式具体为：

db＝4S/(π×Z_a)，

其中，db表示等效椭圆模型的短轴长度，S表示岩石矿颗粒的投影面积，Z_a表示岩石矿颗粒最长的径长。

优选的，所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法中，所述岩石矿颗粒的发育特征参数至少包括岩石矿颗粒的面积、周长、圆度以及粒径。

第二方面，本发明还提供一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的装置，包括：

图像获取模块，用于获取岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像；。

图像处理模块，用于对所述微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行预处理；