[发明专利]一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法及装置在审
| 申请号: | 202110644051.8 | 申请日: | 2021-06-09 |
| 公开(公告)号: | CN113436152A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
| 发明(设计)人: | 张吉振;韩登林;林伟;王晨晨;刘彬 | 申请(专利权)人: | 长江大学 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 柏琳容 |
| 地址: | 430100 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 定量 识别 分析 颗粒 发育 特征 方法 装置 | ||
1.一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法,其特征在于,包括如下步骤:
获取岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像;
对所述微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行预处理;
建立微观电镜扫描图像中预处理后的岩石矿颗粒的等效椭圆模型,其中,所述等效椭圆模型的面积与预处理后的所述岩石矿颗粒的面积相等;
根据所述等效椭圆模型,对岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像进行等效替换,并计算出所述岩石矿颗粒的发育特征参数。
2.根据权利要求1所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法,其特征在于,所述对所述微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行预处理的步骤具体包括:
对所述微观电镜扫描图像进行比例尺标定;
对比例尺标定后的微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行边缘锐化处理。
3.根据权利要求1所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法,其特征在于,所述等效椭圆模型的长轴为岩石矿颗粒最长的径长,所述长轴的方向与岩石矿颗粒最长的径长的方向一致,所述等效椭圆模型的短轴与所述长轴垂直,所述等效椭圆模型的短轴的长度基于预设的椭圆模型构建公式求得。
4.根据权利要求3所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法,其特征在于,所述椭圆模型构建公式具体为:
db=4S/(π×Za),
其中,db表示等效椭圆模型的短轴长度,S表示岩石矿颗粒的投影面积,Za表示岩石矿颗粒最长的径长。
5.根据权利要求1所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法,其特征在于,所述岩石矿颗粒的发育特征参数至少包括岩石矿颗粒的面积、周长、圆度以及粒径。
6.一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的装置,其特征在于,包括:
图像获取模块,用于获取岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像;
图像处理模块,用于对所述微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行预处理;
等效椭圆模型建立模块,用于建立微观电镜扫描图像中预处理后的岩石矿颗粒的等效椭圆模型,其中,所述等效椭圆模型的面积与预处理后的所述岩石矿颗粒的面积相等;
参数定量计算模块,用于根据所述等效椭圆模型,对岩石矿颗粒的微观电镜扫描图像进行等效替换,并计算出所述岩石矿颗粒的发育特征参数。
7.根据权利要求6所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的装置,其特征在于,所述图像处理模块具体用于:
对所述微观电镜扫描图像进行比例尺标定;
对比例尺标定后的微观电镜扫描图像中的岩石矿颗粒进行边缘锐化处理。
8.根据权利要求6所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的装置,其特征在于,所述等效椭圆模型的长轴为岩石矿颗粒最长的径长,所述长轴的方向与岩石矿颗粒最长的径长的方向一致,所述等效椭圆模型的短轴与所述长轴垂直,所述等效椭圆模型的短轴的长度基于预设的椭圆模型构建公式求得。
9.一种定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的设备,其特征在于,包括:处理器和存储器;
所述存储器上存储有可被所述处理器执行的计算机可读程序;
所述处理器执行所述计算机可读程序时实现如权利要求1-5任意一项所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法中的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现如权利要求1-5任意一项所述的定量识别与分析岩矿颗粒发育特征的方法中的步骤。
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