[发明专利]基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管及制备方法有效

专利信息
申请号: 202110559929.8 申请日: 2021-05-21
公开(公告)号: CN113517356B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 李京波;王小周;赵艳 申请(专利权)人: 浙江芯科半导体有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/06;H01L29/36;H01L21/329
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 李园园
地址: 311400 浙江省杭州市富*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 台阶 cbn sic 混合结构 二极管 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管,其特征在于,包括:自下而上依次层叠设置的欧姆接触电极(1)、N型SiC衬底层(2)、N型SiC外延层(3)和肖特基接触电极(4),其中,

所述肖特基接触电极(4)位于所述N型SiC外延层(3)的中间区域;

所述N型SiC外延层(3)上表面的边缘形成阶梯状环形台阶;

所述N型SiC外延层(3)上表面的中间区域设置有T型凹槽(301);

所述N型SiC外延层(3)上表面边缘的底层的台阶面上设置有第一P型注入区(5);

所述N型SiC外延层(3)上表面边缘的中间层和顶层的台阶面上设置有第一P型终端(6);

所述T型凹槽(301)的外围绕设有第二P型终端(7);

所述T型凹槽(301)的下方设置有第二P型注入区(8);

其中,所述第一P型终端(6)和所述第二P型终端(7)的材料为P型立方相氮化硼。

2.根据权利要求1所述的基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管,其特征在于,所述第一P型注入区(5)、所述第一P型终端(6)和所述第二P型终端(7)均为封闭环结构,所述第二P型注入区(8)为条形结构。

3.根据权利要求1所述的基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管,其特征在于,所述第一P型注入区(5)和所述第二P型注入区(8)的材料为P型4H-SiC。

4.根据权利要求3所述的基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管,其特征在于,所述P型4H-SiC的掺杂浓度为1019-1020cm-3次方量级。

5.根据权利要求1所述的基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管,其特征在于,还包括钝化层(9),所述钝化层(9)设置在所述N型SiC外延层(3)上并覆盖所述N型SiC外延层(3)上表面边缘的所述第一P型注入区(5)和所述第一P型终端(6)。

6.根据权利要求5所述的基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管,其特征在于,还包括保护层(10),所述保护层(10)设置在所述钝化层(9)上。

7.一种基于台阶状P型CBN与SiC混合结构的4H-SiC二极管制备方法,其特征在于,包括;

S1:在4H-SiC衬底上形成4H-SiC外延层;

S2:利用等离子体干法刻蚀对所述4H-SiC外延层的中间区域和边缘区域进行刻蚀,在所述4H-SiC外延层的边缘形成阶梯状的4H-SiC沟槽区,在所述4H-SiC外延层的中间形成T型凹槽,其中,所述阶梯状的4H-SiC沟槽区自下而上依次为第一4H-SiC沟槽区、第二4H-SiC沟槽区和第三4H-SiC沟槽区;

S3:利用等离子体干法刻蚀对所述T型凹槽外围和底部进行刻蚀,在所述T型凹槽外围形成第四4H-SiC沟槽区,在所述T型凹槽底部形成第五4H-SiC沟槽区;

S4:利用离子注入,在所述第一4H-SiC沟槽区内和所述第五4H-SiC沟槽区内形成P型注入区;

S5:利用化学气相淀积技术,在所述第二4H-SiC沟槽区、所述第三4H-SiC沟槽区和所述第四4H-SiC沟槽区内淀积形成P型终端;其中,P型终端的材料为P型立方相氮化硼;

S6:在器件表面通过化学气相淀积,形成钝化层;

S7:在所述4H-SiC衬底的底面制备欧姆接触电极;

S8:刻蚀部分所述钝化层漏出器件中间区域的所述4H-SiC外延层,在漏出的所述4H-SiC外延层上制备肖特基接触电极;

S9:在所述钝化层上制备形成保护层。

8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述P型终端的材料为P型立方相氮化硼,所述P型注入区的材料为P型4H-SiC。

9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述P型4H-SiC的掺杂浓度为1019-1020cm-3次方量级。

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