[发明专利]电容的参数测量电路及电容的ESR容量测量仪有效
申请号: | 202110472726.5 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN113219257B | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 梁志宏;周赞;胡新平;杨权 | 申请(专利权)人: | 深圳市东昕科技有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 阳方玉 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区福海街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 参数 测量 电路 esr 容量 测量仪 | ||
1.一种电容的参数测量电路,与待测电容连接,所述待测电容配置为根据第一电压进行充放电以输出第一待测电压和第一待测电流;其特征在于,包括:
控制电路,配置为从所连接的线路输出数字驱动信号;
数模转换电路,与所述控制电路连接,配置为将所述数字驱动信号转换为模拟驱动电压;其中,所述模拟驱动电压的频率与所述数字驱动信号相关联;
驱动电路,与所述数模转换电路连接,配置为对所述模拟驱动电压进行放大以输出驱动放大电压;
分压电路,与所述驱动电路和所述待测电容连接,配置为对所述驱动放大电压进行分压以输出所述第一电压;
电压检测电路,与所述待测电容连接,配置为对所述第一待测电压和所述第一电压进行检测以输出第一电压检测信号;
电流检测电路,与所述待测电容连接,配置为对所述第一待测电流进行检测以输出第一电流检测信号;
所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第一电流检测信号得到初始电容参数;
所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出电压控制信号;
所述分压电路还配置为根据所述电压控制信号对所述驱动放大电压进行分压以输出第二电压;
所述待测电容还配置为根据所述第二电压进行充放电以输出第二待测电压和第二待测电流;
所述电压检测电路还配置为对所述第二待测电压和所述第二电压进行检测以输出第二电压检测信号;
所述电流检测电路还配置为根据第一电流控制信号对所述第二待测电流进行检测以输出第二电流检测信号;
所述控制电路还配置为根据所述第二电压检测信号和所述第二电流检测信号得到第一目标电容参数。
2.如权利要求1所述的电容的参数测量电路,其特征在于,所述电流检测电路包括:
第一放大组件,与所述待测电容连接,配置为对所述第一待测电压进行放大以生成第一待测放大电压;
取样组件,与所述第一放大组件和所述控制电路连接,配置为根据所述第一待测电压和所述第一待测放大电压输出第一电流检测信号。
3.如权利要求2所述的电容的参数测量电路,其特征在于,所述控制电路还配置为根据所述初始电容参数输出电流控制信号;
所述第一放大组件还配置为根据所述电流控制信号对所述第一待测电压进行放大以生成第二待测放大电压;
所述取样组件还配置为根据所述第一待测电压和所述第二待测放大电压输出第三电流检测信号;
所述控制电路还配置为根据所述第一电压检测信号和所述第三电流检测信号得到第二目标电容参数。
4.如权利要求3所述的电容的参数测量电路,其特征在于,所述第一放大组件包括:
档位选择组件,与所述待测电容和所述取样组件连接,配置为根据所述电流控制信号将所述第二待测放大电压转换为第一偏置电压;
电压转换组件,与所述档位选择组件、所述待测电容和所述取样组件连接,配置为根据所述第一偏置电压将所述第一待测电压转换为所述第一待测放大电压。
5.如权利要求2所述的电容的参数测量电路,其特征在于,所述取样组件包括:
第一电压采样组件,与所述待测电容和所述第一放大组件连接,配置为对所述第一待测电压进行采样以生成第一电压采样信号;
第二电压采样组件,与所述第一放大组件连接,配置为对所述第一待测放大电压进行采样以生成第二电压采样信号;
第一运算放大组件,与所述第一电压采样组件和所述第二电压采样组件连接,配置为对所述第一电压采样信号和所述第二电压采样信号进行运算和放大以输出第一模拟电流检测信号;
第一模数转换组件,与所述第一运算放大组件和所述控制电路连接,配置为将所述第一模拟电流检测信号转换为第一电流检测信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市东昕科技有限公司,未经深圳市东昕科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110472726.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。