[发明专利]量子门标定方法及装置、电子设备和介质

权利要求书

1.一种量子门标定方法，包括：

获得待标定量子门的刻画方程组；

响应于所述刻画方程组中包括其他量子门，判断所述其他量子门是否已被标定为可信；

响应于所述其他量子门已被标定为可信，依次根据所述刻画方程组中的每一个刻画方程进行量子门操作，以获得相对应的测量结果；

判断所述测量结果是否符合相对应的刻画方程中的预期结果；以及

响应于所述刻画方程组中的每一个刻画方程所对应的测量结果均符合预期结果，将所述待标定量子门标定为可信。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述待标定量子门包括以下所组成的项中的一个或多个：

单量子比特量子门、两量子比特量子门以及三量子比特量子门。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述刻画方程组是基于酉变换的矩阵表示构造的。

4.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其中，依次根据所述刻画方程组中的每一个刻画方程进行量子门操作，以获得相对应的测量结果包括：

响应于一个或多个刻画方程所对应的预期结果为叠加态，根据所述一个或多个刻画方程中的每一个刻画方程分别进行多次量子门操作，以获得相应的多个测量结果；以及

对于所述每一个刻画方程：统计所述相应的多个测量结果中的为所述叠加态中的相应态的次数。

5.如权利要求4所述的方法，其中，判断所述测量结果是否符合相对应的刻画方程中的预期结果包括：

基于假设检验方法判断所述一个或多个刻画方程所对应的测量结果是否符合所述预期结果。

6.如权利要求1所述的方法，还包括：

响应于所述刻画方程组中的一个或多个刻画方程所对应的测量结果与所述预期结果存在偏差，基于所述偏差确定所述待标定量子门保真度。

7.一种量子门标定装置，包括：

获得单元，配置为获得待标定量子门的刻画方程组；

第一判断单元，配置为响应于所述刻画方程组中包括其他量子门，判断所述其他量子门是否已被标定为可信；

操作单元，配置为响应于所述其他量子门已被标定为可信，依次根据所述刻画方程组中的每一个刻画方程进行量子门操作，以获得相对应的测量结果；

第二判断单元，配置为判断所述测量结果是否符合相对应的刻画方程中的预期结果；以及

标定单元，配置为响应于所述刻画方程组中的每一个刻画方程所对应的测量结果均符合预期结果，将所述待标定量子门标定为可信。

8.如权利要求7所述的装置，其中，所述待标定量子门包括以下所组成的项中的一个或多个：

单量子比特量子门、两量子比特量子门以及三量子比特量子门。

9.如权利要求7所述的装置，其中，所述刻画方程组是基于酉变换的矩阵表示构造的。

10.如权利要求7-9中任一项所述的装置，其中，所述操作单元包括：

响应于一个或多个刻画方程所对应的预期结果为叠加态，根据所述一个或多个刻画方程中的每一个刻画方程分别进行多次量子门操作，以获得相应的多个测量结果的单元；以及

对于所述每一个刻画方程：统计所述相应的多个测量结果中的为所述叠加态中的相应态的次数的单元。

11.如权利要求10所述的装置，其中，所述第二判断单元包括：

基于假设检验方法判断所述一个或多个刻画方程所对应的测量结果是否符合所述预期结果的单元。

12.如权利要求10所述的装置，还包括：

响应于所述刻画方程组中的一个或多个刻画方程所对应的测量结果与所述预期结果存在偏差，基于所述偏差确定所述待标定量子门保真度的单元。