[发明专利]包裹信息测量方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种包裹信息测量方法，其特征在于，所述方法包括：

通过激光器实时发射激光线，照射到传送小车的皮带面和包裹表面，所述传送小车用于传送所述包裹；

通过现场可编程逻辑门阵列FPGA控制面阵互补金属氧化物半导体CMOS对所述传送小车成像，得到目标图像；

通过数据方向寄存器DDR转发所述目标图像至ARM；

通过所述ARM对每一帧目标图像进行处理，得到所述目标图像中的所述包裹的尺寸信息和位置信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述ARM对每一帧目标图像进行处理，得到所述目标图像中的所述包裹的尺寸信息和位置信息，包括：

提取所述目标图像中的散斑点，并拟合出所述包裹的点云图；

根据所述点云图识别所述传送小车上是否有包裹，并计算所述包裹的尺寸信息和位置信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述提取所述目标图像中的散斑点，并拟合出所述包裹的点云图，包括：

通过标定算法确定所述面阵CMOS的有效散斑点的有效范围；

提取所述目标图像中所述有效范围内的散斑点的信息，所述散斑点的信息包括是否有包裹、每个散斑点的位置信息和尺寸信息；

根据提取到的所述散斑点的信息拟合所述包裹的所述点云图。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述提取所述目标图像中所述有效范围内的散斑点的信息，包括：

根据所述目标图像的像素灰度幅值和分布特性提取所述有效范围内的所述散斑点的信息。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述根据提取到的所述散斑点的信息拟合所述包裹的所述点云图，包括：

通过提取得到的所述散斑点的信息，根据每个散斑点邻域内其他散斑点的信息，去除孤立噪声点；

通过去噪后的所述散斑点的集合，拟合得到所述包裹的所述点云图。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述点云图识别所述传送小车上是否有包裹，并计算所述包裹的尺寸信息和位置信息，包括：

通过棋盘标定算法确定所述面阵CMOS的内外参数；

根据所述内外参数、所述有效范围以及高度标定算法获取高度系数；

根据所述点云图和所述高度系数识别所述传送小车上是否有包裹，并计算所述包裹的尺寸信息和位置信息。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述点云图和所述高度系数识别所述传送小车上是否有包裹，并计算所述包裹的尺寸信息和位置信息，包括：

根据所述点云图和所述高度系数计算得到所述包裹的尺寸信息；

根据所述包裹的尺寸信息，利用动态移位计算获取所述包裹在所述传送小车上的位置信息。

8.根据权利要求1至7任一所述的方法，其特征在于，所述通过DDR转发所述目标图像至ARM之前，所述方法还包括：

通过所述FPGA提取所述目标图像的图像流，对所述目标图像进行去噪；

所述通过DDR转发所述目标图像至ARM，包括：

通过所述DDR将去噪后的所述目标图像转发至所述ARM。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条程序指令，所述至少一条程序指令被处理器加载并执行以实现如权利要求1至8任一所述的方法。

10.一种包裹信息测量装置，其特征在于，所述装置包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条程序指令，所述处理器通过加载并执行所述至少一条程序指令以实现如权利要求1至8任一所述的方法。