[发明专利]一种标定系统与标定系统的测量方法

权利要求书

1.一种标定系统的测量方法，其特征在于：提供一种标定系统，包括计算单元、光学发射及接收装置、反射镜、转台和导轨，所述反射镜安装在所述转台的中心，所述导轨连接有导轨滑块，所述光学发射及接收装置安装在所述导轨滑块上，所述光学发射及接收装置悬于所述反射镜的正上方，所述光学发射及接收装置与所述计算单元连接；

采用所述的标定系统来测量导轨运动轴与转台转动轴的夹角；

所述方法包括以下步骤：

S1、将导轨滑块移动到第一位置，转动转台，将平面探测器的探测点连接起来，得到第一个圆；

S2、将导轨滑块移动到第二位置，转动转台，将平面探测器的探测点连接起来，得到第二个圆；

S3、计算导轨运动轴与转台转动轴的夹角a：

a＝arctan((l2-l1)/δZ)

其中，l1为第一个圆的半径，l2为第一个圆的半径，δZ为第一位置与第二位置的间距。

2.根据权利要求1所述的标定系统的测量方法，其特征在于：所述光学发射及接收装置包括激光器、分光镜和平面探测器，其中，所述激光器射出准直后的激光后，经过所述分光镜后投射到所述反射镜上，所述反射镜反射激光到所述分光镜上，所述分光镜再将激光投射到所述平面探测器上。

3.根据权利要求2所述的标定系统的测量方法，其特征在于：所述平面探测器为二维感光器件阵列。

4.根据权利要求1所述的标定系统的测量方法，其特征在于：在步骤S1之前，进行步骤S0、转动转台，使光斑在反射镜上画圆，调整反射镜的位置，使光斑在反射镜上画的圆尽可能小。

5.根据权利要求1所述的标定系统的测量方法，其特征在于：在步骤S2中，将第一个圆与第二个圆放在同一坐标系下。

6.根据权利要求1所述的标定系统的测量方法，其特征在于：在步骤S1中，平面探测器每接收到一个光斑，就会得到一个空间位置点t，当转台旋转时，则得到空间位置点集t1、t2、……、tn，将空间位置点集t1、t2、……、tn画在一个坐标系下，则得到第一个圆；第二个圆的产生方法与第一个的产生方式相同。