[发明专利]半导体存储装置在审
申请号: | 202110400396.9 | 申请日: | 2021-04-14 |
公开(公告)号: | CN113571112A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 柳平康辅;坪内洋;日冈健 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/04 | 分类号: | G11C16/04;G11C11/56;G11C16/26 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:存储单元;
字线,与所述存储单元的栅极电连接;
位线,与所述存储单元的一端电连接;
第1晶体管,具有与所述位线电连接的第1栅极;
第2晶体管,连接于所述第1晶体管的第1端;及
驱动器,对所述第1晶体管的所述第1栅极施加电压;
读出动作中,所述驱动器根据对所述字线施加的读出电压,改变对所述第1晶体管的所述第1栅极施加的电压。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述存储单元具备具有不同阈值电压的多个状态中的一个,
所述驱动器根据所述存储单元所具备的所述状态,改变对所述第1晶体管的所述第1栅极施加的电压。
3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述存储单元具备具有不同阈值电压的多个状态中的一个,所述多个状态被分为第1组及第2组,
所述驱动器根据所述存储单元是所述第1组及第2组中的哪一组来改变对所述第1晶体管的所述第1栅极施加的电压。
4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述存储单元具有第1状态或第2状态中的任一状态,第1状态是写入动作及抹除动作的执行次数为第1次数以下的状态,第2状态是写入动作及抹除动作的执行次数大于所述第1次数的状态,
在所述存储单元处于所述第1状态的情况下,所述驱动器对所述第1晶体管的所述第1栅极施加第1电压,
在所述存储单元处于所述第2状态的情况下,所述驱动器对所述第1晶体管的所述第1栅极施加与所述第1电压不同的第2电压。
5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中所述第2电压是比所述第1电压高的电压或比所述第1电压低的电压的任一种电压。
6.一种半导体存储装置,具备:存储单元;
字线,与所述存储单元的栅极电连接;
位线,与所述存储单元的一端电连接;
第1晶体管,具有与所述位线电连接的第1端;
第2晶体管,具有与所述第1晶体管的第2端电连接的栅极;及
第3晶体管,具有连接于所述第2晶体管的第1端;及
控制电路,对所述第1晶体管的第1栅极供给控制信号;
读出动作中,所述控制电路根据对所述字线施加的读出电压,改变对所述第1晶体管的所述第1栅极供给的所述控制信号的断言状态的期间。
7.根据权利要求6所述的半导体存储装置,其中所述存储单元具备具有不同阈值电压的多个状态中的一个,
所述控制电路根据所述存储单元所具备的所述状态,改变对所述第1晶体管供给的所述控制信号的断言状态的期间。
8.根据权利要求6所述的半导体存储装置,其中所述存储单元具备具有不同阈值电压的多个状态中的一个,所述多个状态被分为第1组及第2组,
所述驱动器根据所述存储单元是所述第1组及第2组中的哪一组来改变对所述第1晶体管的所述第1栅极供给的所述控制信号的断言状态的期间。
9.根据权利要求6所述的半导体存储装置,其中所述存储单元具有第1状态或第2状态中的任一状态,第1状态是写入动作及抹除动作的执行次数为第1次数以下的状态,第2状态是写入动作及抹除动作的执行次数大于所述第1次数的状态,
在所述存储单元处于所述第1状态的情况下,所述驱动器将对所述第1晶体管的所述第1栅极供给的所述控制信号的断言状态设定为第1期间,
在所述存储单元处于所述第2状态的情况下,所述驱动器将对所述第1晶体管的所述第1栅极供给的所述控制信号的断言状态设定为与所述第1期间不同的第2期间。
10.根据权利要求9所述的半导体存储装置,其中所述第2期间是比所述第1期间长的期间或比所述第1期间短的期间的任一期间。
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