[发明专利]方位角及旋转角的侦测方法及手写装置

权利要求书

1.一种方位角及旋转角的侦测方法，其特征在于，包括如下步骤：提供输入单元，感应握笔状态，产生输入坐标，所述输入坐标为三维立体坐标；提供基准点单元，产生基准点坐标，所述基准点坐标为三维立体坐标；提供计算单元，根据所述基准点坐标及所述输入坐标，计算所述方位角及所述旋转角，

设定所述基准点坐标为（XA,YA,ZA），所述输入坐标为（XB,YB,ZB），所述方位角为θ₀，所述计算单元根据所述基准点坐标（XA,YA,ZA）及输入坐标（XB,YB,ZB）中的两轴的差值计算所述方位角θ₀，

设定Y轴负方向为0°，顺时针方向为角度值增加方向，则所述计算单元计算所述方位角θ₀包括如下步骤：计算X轴方向的差值dx=XA-XB;计算Y轴方向的差值dy=YA-YB;计算θ₁=；若dy0，则计算θ₂=180°+θ₁；若dy≥0，则计算θ₂=360°+θ₁；若θ₂≥360° ，则计算所述方位角θ₀=θ₂-360°；若θ₂360° ，则计算所述方位角θ₀=θ₂，其中，所述θ₁及θ₂为计算所述方位角θ₀的中间值。

2.根据权利要求1所述的方位角及旋转角的侦测方法，其特征在于，设定所述旋转角为R，所述计算单元根据所述基准点坐标（XA,YA,ZA）及输入坐标（XB,YB,ZB）中的另一轴的差值计算所述旋转角R。

3.根据权利要求2所述的方位角及旋转角的侦测方法，其特征在于，所述计算单元计算所述旋转角R包括如下步骤：计算Z轴方向的差值dz=(ZA/ZA_max)-(ZB/ZB_max)；若dz0，则计算所述旋转角R=360°*(1+dz)；若dz≥0，则计算所述旋转角R=360°*dz；

其中，所述ZA_max为所述基准点单元于Z轴的最大测量值，所述ZB_max为所述输入单元于Z轴的最大测量值。

4.根据权利要求1所述的方位角及旋转角的侦测方法，其特征在于，所述输入单元包括依次电连接的第一电子罗盘、第一单晶片及无线发射器，所述第一电子罗盘产生所述输入坐标，所述第一单晶片读取所述输入坐标，并通过所述无线发射器发送至所述基准点单元。

5.根据权利要求4所述的方位角及旋转角的侦测方法，其特征在于，所述基准点单元包括依次电连接第二电子罗盘、第二单晶片及无线接收器，所述计算单元为算数逻辑单元，设于所述第二单晶片，所述第二电子罗盘产生所述基准点坐标，所述无线接收器接收所述无线发射器发送的所述输入坐标，所述第二单晶片读取所述输入坐标及所述基准点坐标，所述计算单元根据所述输入坐标及所述基准点坐标，计算所述方位角及所述旋转角。

6.根据权利要求5所述的方位角及旋转角的侦测方法，其特征在于，所述第一电子罗盘与所述第二电子罗盘为三轴地磁传感器。

7.根据权利要求5所述的方位角及旋转角的侦测方法，其特征在于，所述无线发射器与所述第一单晶片整合为一单晶片，所述无线接收器与所述第二单晶片整合为一单晶片。