[发明专利]固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。该固态硬盘的测试方法包括对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。本申请方案能够结合多个真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

技术领域

本申请涉及固态硬盘技术领域，特别是涉及一种固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。

背景技术

目前，SSD(Solid State Drive，固态硬盘)已经被广泛应用于各种场合，由于其在性能、功耗、环境适应性等方面的优秀指标，正逐步替换传统的硬盘。固态硬盘的性能测试是固态硬盘出厂前必须经过的环节，如何提高测试效率是现在各大固态硬盘厂商待以解决的问题。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质，能够结合真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

本申请采用的一种技术方案是提供一种固态硬盘的测试方法，方法包括：对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。

进一步地，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标，包括：在待测固态硬盘处于裸盘状态时，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

进一步地，改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标包括：对待测固态硬盘进行K次写入/删除操作，K＝1，2，……。其中，在第M次进行写入/删除操作后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行写入/删除操作后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。其中，写入/删除操作包括对待测固态硬盘的所有容量写满数据，以使得待测固态硬盘从裸盘状态变为满盘状态，删除待测固态硬盘的所有数据，以使得待测固态硬盘从满盘状态变为裸盘状态。

进一步地，改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标包括：对待测固态硬盘进行K次写入操作，向待测固态硬盘写入预设容量的数据，K＝1，2，……。其中，在第M次进行写入操作后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行写入操作后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。

进一步地，在对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标之前，包括：判断待测固态硬盘是否支持写缓存功能。若是，则获取待测固态硬盘的初始写缓存状态。

进一步地，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标，包括：在待测固态硬盘处于初始写缓存状态时，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

进一步地，改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标包括：交替改变K次待测固态硬盘的写缓存状态，K＝1，2，……。其中，在第M次改变待测固态硬盘的写缓存状态之后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次改变写缓存状态后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。其中，第一次改变待测固态硬盘的写缓存状态之后得到的写缓存状态与初始写缓存状态相反。

进一步地，基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况包括：若第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标大于预设比例的第一性能指标，M＝1,2，……，K。确定待测固态硬盘的性能没有跌落。