[发明专利]固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种固态硬盘的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标；

改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标；

基于所述第一性能指标与所述第二性能指标确定所述待测固态硬盘的性能跌落情况。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标，包括：

在所述待测固态硬盘处于裸盘状态时，对所述待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标包括：

对所述待测固态硬盘进行K次写入/删除操作，K＝1，2，……；

其中，在第M次进行所述写入/删除操作后，对所述待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行所述写入/删除操作后的所述待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K；

其中，所述写入/删除操作包括对所述待测固态硬盘的所有容量写满数据，以使得所述待测固态硬盘从裸盘状态变为满盘状态，删除所述待测固态硬盘的所有数据，以使得所述待测固态硬盘从满盘状态变为裸盘状态。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标包括：

对所述待测固态硬盘进行K次写入操作，向所述待测固态硬盘写入预设容量的数据，K＝1，2，……；

其中，在第M次进行所述写入操作后，对所述待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行所述写入操作后的所述待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标之前，包括：

判断所述待测固态硬盘是否支持写缓存功能；

若是，则获取所述待测固态硬盘的初始写缓存状态。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标，包括：

在所述待测固态硬盘处于所述初始写缓存状态时，对所述待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标包括：

交替改变K次所述待测固态硬盘的写缓存状态，K＝1，2，……；

其中，在第M次改变所述待测固态硬盘的写缓存状态之后，对所述待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次改变写缓存状态后的所述待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K；

其中，第一次改变所述待测固态硬盘的写缓存状态之后得到的写缓存状态与所述初始写缓存状态相反。

8.根据权利要求2-7任一项所述的方法，其特征在于，

所述基于所述第一性能指标与所述第二性能指标确定所述待测固态硬盘的性能跌落情况包括：

若所述第M次改变工作参数后的所测得的所述待测固态硬盘的第二性能指标大于预设比例的所述第一性能指标，M＝1,2，……，K；

确定所述待测固态硬盘的性能没有跌落。