[发明专利]一种非接触式测量设备

说明书

本发明提供一种非接触式测量设备，该测量设备包括主控板、基台、位置获取机构、升降组件、传感器机构和传送调节机构，位置获取机构、升降组件、传感器机构和传送调节机构均与主控板电性连接；该测量设备通过主控板统一调控，位置获取机构将获取的待测量工件的坐标发送给主控板，主控板根据该坐标发送指令给升降组件、第一驱动组件来对传感器的姿态进行调节，主控板根据该坐标发送指令给传送调节机构以调节待测量工件的姿态；测量设备利用机械代替人工对待测量工件进行姿态调节，提高测量效率和测量精度；利用主控板统一控制升降组件、DD马达和传动调节机构，提高传感器测量角度与待测量工件的匹配精度，进一步提高测量设备的测量精度。

技术领域

本发明涉及一种非接触式测量设备技术领域，尤其涉及非接触式测量设备。

背景技术

目前对于产品的测量一般为接触式测量和非接触式测量，接触式测量具有较高的准确性和可靠性，但是因测量基准点以及接触时的磨损等使得接触式测量费用较高。非接触式测量测量速度快但相比于接触式测量的精度还不够，目前为了提高非接触式测量的精度使用精度较高的传感器进行测量，比如：光谱共焦传感器，而该传感器的质量较重在运动过程中产生的惯性较大。一般的，通过将传感器固定不动，其他轴配合运动进行测量，但是该种方式将导致机台占用的空间较大，且无法实现多角度测量。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种非接触式测量设备，该非接触式测量设备通过调节传感器姿态实现多角度测量，且减小基台的占用空间。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

根据本发明实施例的非接触式测量设备，包括非接触式测量设备本体，所述非接触式测量设备本体包括：

主控板;

基台，所述基台包括竖直基座与水平基座，所述竖直基座与水平基座固定连接；

位置获取机构，所述位置获取机构与所述主控板电性连接，所述位置获取机构固定安装于所述基台上，所述位置获取机构位于待测量工件的上方，在测量之前，所述位置获取机构获取待测量工件的当前坐标并将其发送给所述主控板；

升降组件，所述升降组件与所述主控板电性连接，所述升降组件接收所述主控板的指令沿所述竖直基座方向进行往复运动；

传感器机构，所述传感器机构与所述主控板电性连接，所述传感器机构跟随所述升降组件做往复运动；所述传感器机构包括传感器组件与第一驱动组件，所述第一驱动组件安装于所述传感器组件的一侧，所述第一驱动组件与所述升降组件固定连接；所述第一驱动组件接收所述主控板发送的指令，并驱动所述传感器组件绕其中心轴线做旋转运动；

传送调节机构，所述传送调节机构与所述主控板电性连接，所述传送调节机构位于所述传感器机构的下方，所述传送调节机构固定安装于所述水平基座上，所述待测量工件置于所述传送调节机构上；所述传送调节机构接收所述主控板的指令，调节所述待测量工件在水平方向上的姿态，以使得所述传感器组件对所述待测量工件的若干测量位置进行测量。

优选地，所述传感器组件包括传感器、传感器固定座和旋转轴，所述传感器固定安装于所述传感器固定座上，所述传感器固定座的一端与所述第一驱动组件活动连接，另一端与所述旋转轴固定连接。

优选地，所述升降组件包括第一滑轨、第一滑块和第二驱动组件，所述第一滑轨与第二驱动组件固定安装于所述竖直基座上，所述第一滑块与第一滑轨滑动连接，所述第二驱动组件与所述主控板电性连接；所述第二驱动组件接收所述主控板的指令驱动所述第一滑块沿所述第一滑轨方向作往复运动。

优选地，所述非接触式测量设备本体还包括刚性的同轴组件，所述同轴组件与所述升降组件固定连接；所述同轴组件上设有两个第一同轴孔，两个所述第一同轴孔的圆心位于同一直线上；所述传感器组件的两侧分别与所述同轴组件的两个所述第一同轴孔连接。