[发明专利]一种非接触式测量设备

权利要求书

1.一种非接触式测量设备，其特征在于，包括测量设备本体(100)，所述测量设备本体(100)包括：

主控板；

基台(30)，所述基台包括竖直基座与水平基座(320)，所述竖直基座与水平基座(320)固定连接，所述竖直基座包括第一竖直基座(311)与第二竖直基座(312)；

位置获取机构(80)，所述位置获取机构(80)与所述主控板电性连接，所述位置获取机构(80)固定安装于所述基台(30)上，所述位置获取机构(80)位于待测量工件(1)的上方，在测量之前，所述位置获取机构(80)获取待测量工件(1)的当前坐标并将其发送给所述主控板；

两个升降组件(40)，两个所述升降组件(40)分别安装于所述第一竖直基座(311)与第二竖直基座(312)上，所述升降组件(40)与所述主控板电性连接，所述升降组件(40)接收所述主控板的指令沿所述竖直基座方向进行往复运动；

传感器机构(20)，所述传感器机构(20)与所述主控板电性连接，所述传感器机构(20)跟随所述升降组件(40)做往复运动；所述传感器机构(20)包括传感器组件与第一驱动组件(220)，所述第一驱动组件(220)安装于所述传感器组件的一侧，所述第一驱动组件(220)与所述升降组件(40)固定连接；所述第一驱动组件(220)接收所述主控板发送的指令，并驱动所述传感器组件绕其中心轴线做旋转运动；

传送调节机构(60)，所述传送调节机构(60)与所述主控板电性连接，所述传送调节机构(60)位于所述传感器机构(20)的下方，所述传送调节机构(60)固定安装于所述水平基座(320)上，所述待测量工件(1)置于所述传送调节机构(60)上；所述传送调节机构(60)接收所述主控板的指令，调节所述待测量工件(1)在水平方向上的姿态，以使得所述传感器组件对所述待测量工件(1)的若干测量位置进行测量；

刚性的同轴组件(10)，所述同轴组件(10)与所述升降组件(40)固定连接；所述同轴组件(10)上设有第一同轴孔(110)与第二同轴孔(120)，所述第一同轴孔(110)与第二同轴孔(120)的圆心位于同一直线上；所述传感器组件的两侧分别连接所述第一同轴孔(110)与第二同轴孔(120)。

2.根据权利要求1所述的非接触式测量设备，其特征在于，所述传感器组件包括传感器(230)、传感器固定座(210)和旋转轴(240)，所述传感器(230)固定安装于所述传感器固定座(210)上，所述传感器固定座(210)的一端与所述第一驱动组件(220)活动连接，另一端与所述旋转轴(240)固定连接。

3.根据权利要求1或2所述的非接触式测量设备，其特征在于，所述升降组件(40)包括第一滑轨(420)、第一滑块(410)和第二驱动组件，所述第一滑轨(420)与第二驱动组件固定安装于所述竖直基座上，所述第一滑块(410)与第一滑轨(420)滑动连接，所述第二驱动组件与所述主控板电性连接；所述第二驱动组件接收所述主控板的指令驱动所述第一滑块(410)沿所述第一滑轨(420)方向作往复运动。

4.根据权利要求2所述的非接触式测量设备，其特征在于，所述传感器固定座(210)上设有第三同轴孔(212)与第四同轴孔，所述第三同轴孔(212)与第四同轴孔圆心在同一直线上；安装完成后，所述第二同轴孔(120)与第一同轴孔(110)的圆心共线。

5.根据权利要求2所述的非接触式测量设备，其特征在于，所述传感器固定座(210)上固定安装有第一限位块(213)，所述同轴组件(10)上固定安装有第二限位块(140)与第三限位块(150)，所述第二限位块(140)与第三限位块(150)位于不同位置；所述第二限位块(140)与第三限位块(150)阻挡所述第一限位块(213)跟随所述传感器固定座(210)进行旋转运动。