[发明专利]装置结构在审
申请号: | 202110346525.0 | 申请日: | 2021-03-31 |
公开(公告)号: | CN113555312A | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
发明(设计)人: | 游力蓁;张家豪;黄麟淯;庄正吉;王志豪 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 聂慧荃;闫华 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 结构 | ||
1.一种装置结构,包括:
一半导体纳米结构,位于一背侧绝缘基质层的前侧表面上,并包含:
至少一半导体通道板;
一栅极结构;以及
一第一主动区与一第二主动区,位于该至少一半导体通道板的末端部分并含有一源极区与一漏极区;
一外延半导体材料部分,与该半导体纳米结构横向分开并位于该背侧绝缘基质层上;
一层状堆叠,由下至上包括一平坦化介电层与一通孔层介电层,并位于该半导体纳米结构与该外延半导体材料部分上;
一背侧金属内连线结构,位于该背侧绝缘基质层的下表面上;以及
一导电路径,连接该第一主动区与该背侧金属内连线结构并含有一连接物通孔结构以接触该外延半导体材料部分的侧壁,其上表面在含有该平坦化介电层与该通孔层介电层之间的界面的水平平面中。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造