[发明专利]电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统

说明书

本发明实施例提供了一种电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统。该电路中第一开关模块在第二导通方向上导通，第二开关模块在第一导通方向上导通，第一导通方向和第二导通方向相反；第一开关模块的第一端连接至第一端子，第一开关模块的第二端连接至第二开关模块的第一端，第一开关模块的控制端连接至第一节点；第二开关模块的第二端连接至第二端子，第二开关模块的控制端连接至第一节点；控制模块的第一端连接至第一节点，控制模块的第二端接地，控制模块的控制端连接至第三端子；控制模块用于控制第一开关模块在第一导通方向上导通且第二开关模块在第二导通方向上导通。本发明实施例实现了可靠性高且开关速度快的可控开关。

【技术领域】

本发明涉及电源测试领域，尤其涉及一种电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统。

【背景技术】

电源管理芯片(Power Management IC，简称PMIC)作为给手机系统供电的芯片时，对稳定性要求非常高，新的PMIC在设计成型后需要进行上千次甚至几万次的压力测试和功能测试才能应用到项目产品上，因此需要一个可靠性高且响应及时的可控开关在测试过程中对PMIC进行控制。

相关技术中，通常采用程控电源或者继电器实现可控开关的功能。程控电源的开关瞬态响应的时间为几十至几百us甚至达到ms级别，响应时间慢，造成开关速度慢；程控电源有内阻，无法完全模拟电源断开。继电器的开关时间为5ms至10ms，开关瞬态响应的时间更大，开关速度慢；继电器的开关寿命在百万次，使用寿命有限制；继电器体积大。

【发明内容】

有鉴于此，本发明实施例提供了一种电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统，用于实现可靠性高且开关速度快的可控开关。

第一方面，本发明实施例提供了一种电源测试开关电路，包括：第一开关模块、第二开关模块、控制模块、第一端子、第二端子和第三端子，所述第一开关模块在第二导通方向上导通，所述第二开关模块在第一导通方向上导通，所述第一导通方向和所述第二导通方向相反；

所述第一开关模块的第一端连接至所述第一端子，所述第一开关模块的第二端连接至所述第二开关模块的第一端，所述第一开关模块的控制端连接至第一节点；

所述第二开关模块的第二端连接至所述第二端子，所述第二开关模块的控制端连接至所述第一节点；

所述控制模块的第一端连接至第一节点，所述控制模块的第二端接地，所述控制模块的控制端连接至所述第三端子；

所述控制模块用于控制所述第一开关模块在所述第一导通方向上导通且所述第二开关模块在所述第二导通方向上导通。

在一种可能的实现方式中，所述第一开关模块为第一PMOS晶体管，所述第二开关模块为第二PMOS晶体管。

在一种可能的实现方式中，所述第一PMOS的第一端为源极，所述第一PMOS的第二端为漏极；

所述第二PMOS的第一端为漏极，所述第二PMOS的第二端为源极。

在一种可能的实现方式中，所述控制模块为NMOS晶体管。

在一种可能的实现方式中，所述NMOS晶体管的第一端为漏极，所述NMOS晶体管的第二端为源极。

在一种可能的实现方式中，还包括下拉电阻，所述下拉电阻的一端连接至第二节点，所述下拉电阻的另一端接地；

所述第三端子和所述NMOS晶体管的控制端均连接至所述第二节点。

在一种可能的实现方式中，所述第一端子包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹；

所述第二端子包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹。