[发明专利]基于聚硅氧碳的碳化硅材料、应用和器件在审
| 申请号: | 202110332426.7 | 申请日: | 2015-09-24 |
| 公开(公告)号: | CN113072072A | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
| 发明(设计)人: | 阿希什·P.·迪万吉;安德鲁·R.·霍普金斯;沃尔特·J.·舍伍德;道格拉斯·M.·杜克斯;格伦·桑德格林;马克·S.·兰德;布雷恩·L.·伯纳克 | 申请(专利权)人: | 帕里杜斯有限公司 |
| 主分类号: | C01B32/977 | 分类号: | C01B32/977;C01B33/021;C01B33/037;C30B29/36 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫 |
| 地址: | 美国纽约*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 聚硅氧碳 碳化硅 材料 应用 器件 | ||
1.一种制备碳化硅的方法,所述方法包括:
a.催化包括硅、碳和氧的液体,其中所述液体是摩尔比为约30%至85%的碳,约5%至40%的氧和约5%至35%的硅的聚硅氧碳前体制剂;
b.将所述催化液体在惰性气体存在下、高于70℃的温度下固化成含有硅、碳和氧的固化材料,所述固化材料具有至少约99.99%的纯度;
c.将所述固化材料在高于1750℃的温度下转化成基本上由具有硬度的碳化硅颗粒组成的陶瓷材料,其中所述颗粒具有低于约10ppm的Al,Fe和B总量;
d.将所述碳化硅颗粒制成体积形状,所述体积形状的硬度小于所述碳化硅颗粒硬度的1/4。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述碳化硅是选自由3C,2H,4H,6H,8H和15R构成的组的多型体。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述体积形状的硬度小于所述碳化硅颗粒的硬度的1/10。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述体积形状的硬度小于所述碳化硅颗粒的硬度的1/20。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述液体中硅与碳与氧的摩尔比为约25%Si,约50%C和约25%O。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述液体中硅与碳与氧的摩尔比为约20%Si,约60%C和约20%O。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述液体中硅与碳与氧的摩尔比为约23%Si,约54%C和约23%O。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述液体中硅与碳与氧的摩尔比为约22%Si,约56%C和约22%O。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述液体中硅与碳与氧的摩尔比为约1.37Si,约2.73C和约1.37O。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述碳化硅的体积形状具有低于约50ppm的选自由由Al,Fe,B和P构成的组的元素总量。
11.一种高纯度聚合物衍生的陶瓷SiC组合物,所述组合物包括:
a.SiC4构型;
b.限定表面的组合物,其中所述组合物表面在标准环境温度和压强下抗氧化,借此所述表面在标准环境温度和压强下基本上不含氧化物层;和,
c.其中所述组合物基本上不含杂质,由此总杂质低于1ppm。
12.根据权利要求11所述的高纯度聚合物衍生的陶瓷SiC组合物,其中所述SiC4构型选自由下列构型构成的组:立方结构和四面体结构。
13.根据权利要求11所述的高纯度聚合物衍生的陶瓷SiC组合物,其中所述SiC4构型选自由下列构型构成的组:3C-SiC,β-SiC,2H-SiC,4H-SiC,6H-SiC,8H,10H,16H,18H,19H,15R,21R,24H,33R,39R,27R,48H和51R。
14.根据权利要求11所述的高纯度聚合物衍生的陶瓷SiC组合物,其中所述SiC4构型选自下列构型构成的组:ABCABC的堆叠顺序,ABAB的堆叠顺序,ABCBABCB的堆叠顺序和ABCACBABCACB的堆叠顺序。
15.一种半导体,包括由权利要求11所述的具有带隙的高纯度聚合物衍生的陶瓷SiC组合物制成的SiC晶片,其中所述带隙为约2.26eV至约3.33eV。
16.一种功率器件,包括由权利要求11所述的具有Emax的高纯度聚合物衍生的陶瓷SiC组合物制成的SiC晶片,其中所述Emax大于约1MV/cm。
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