[发明专利]薄膜类产品的分拣方法、分拣系统、及漏检率的预估方法

说明书

本发明提供了一种薄膜类产品的分拣方法、分拣系统、及漏检率的预估方法，该预估方法包括：使用AOI设备对每卷膜材进行非接触式、实时检测；提取AOI检测数据和喷码机喷码信息，获得AOI检测缺陷坐标位置、喷码坐标信息，然后将卷材按照实际片状成品的切片尺寸、切片方向进行模拟分块切割，得到分割图，计算出卷材的良率x、喷码率z；采用如下公式计算得到漏检率F(x,y,Z,m)=(1‑x)*(1‑y)*(1‑Z)*m，其中，x为良率；y为AOI命中率；z为喷码率；m为喷码是否汇整。采用本发明的技术方案，达到及时、直观监控卷材良率以及喷码异常情况的目的，同时也排除了人员的干预，实现自动化分拣，降低外观人力成本。

技术领域

本发明属于膜材行业质检技术领域，尤其涉及一种薄膜类产品的分拣方法、分拣系统、及漏检率的预估方法。

背景技术

目前国内液晶面板产能快速增长，对国内偏光片产品的需求大幅度增加，但人工全检产能有限，成为偏光片公司提升产能的重大瓶颈。据统计，对于32吋偏光片片材产品，较有经验的检验员每小时人均80pcs。手动判定AOI免检卷材方式是依赖于人员对前段良率预估、生产统计表记录AOI和喷码异常等情况的手工信息记录为判定依据，然后再将更新的信息传递至后段工程，人员手动匹配就会存在标准不一、不及时性、不可控性、且需人工费时费力挑选卷材，还不能真实全面反映前段工程的卷材喷码质量情况。

如果实际片材产品免检出货，可至少提高25倍。但卷材是否达到使用分拣机免检，实际上受制于多方面因素，尤其是在卷材良率不稳定的情况下。目前，基本采用手工方式判定卷材是否可以免检，存在工作量繁杂、及时性低、分类判定准确率低的问题。

发明内容

针对以上技术问题，本发明公开了一种薄膜类产品的分拣方法、分拣系统、及漏检率的预估方法，在基于卷材良率预估的基础上，实现漏检率的预估，且准确率高，由此实现了自动分拣，并能及时直观的监控卷材良率以及喷码异常情况，可控性高，降低了成本。

对此，本发明采用的技术方案为：

一种薄膜类产品漏检率的预估方法，其包括如下步骤：

步骤S1，AOI检测：使用AOI设备对每卷膜材进行非接触式、实时检测；

步骤S2，提取AOI检测数据和喷码机喷码信息，获得AOI检测缺陷坐标位置、喷码坐标信息，然后将卷材按照实际片状成品的切片尺寸、切片方向进行模拟分块切割，得到分割图，计算出卷材的良率x、喷码率z；

步骤S3，采用如下公式计算得到漏检率F(x,y,Z,m)：

F(x,y,Z,m)＝(1-x)*(1-y)*(1-Z)*m，

其中，x为良率；y为AOI命中率；z为喷码率，即AOI检测缺陷被喷码的占比，此参数可以通过喷码机反馈的喷码数量与AOI检测设备反馈的缺陷数量之比得到；m为喷码是否汇整，即涂布站二维码读码系统2DCCODE是否读到膜边料二维码的数据，是则m＝1，否则m＝0。

其中AOI检出且喷码产品叫AOI命中，AOI命中率是指AOI在线检测系统对缺陷的检出能力，检出能力是直接取决于软硬件能力。这里的AOI命中率的值是根据前期后制程实际片材全检验证AOI设备能力结果得来。

其中，漏检率概念的推导过程如下：

定义：a0＝实际片材A0品数量，b0＝实际片材B0品数量，c0＝B0品中AOI命中数量，即B0品中被喷码的数量。

其中，A0品指分块区域内有缺陷，且对应喷码状态是OK(也就是至少有一个喷码的)；B0品指分块区域有缺陷，但对应的喷码状态是NG，也就是没有喷码的。

假设所有缺陷命中率一致，则命中率为：c0/b0；良率为：1-b0/(a0+b0)；