[发明专利]胶体金检测卡识别方法、系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.胶体金检测卡识别方法，其特征在于，包括：

获取胶体金检测卡的检测图像；

对所述检测图像进行阈值处理，以得到检测卡骨架图像；

提取所述检测卡骨架图像的灰度值小于预设灰度阈值的区域，以得到检测区；

对所述检测区进行特征提取，以得到检测区特征曲线；

根据所述检测区特征曲线得到背景信号值、质控值和检测值；

根据所述背景信号值、所述质控值、所述检测值和预设检测指标阈值输出检测结果；

其中，所述提取所述检测卡骨架图像的灰度值小于预设灰度阈值的区域，以得到检测区，包括：

对所述检测卡骨架进行填洞，并获取所述检测卡骨架横向及纵向的最小坐标与最大坐标，以得到最小覆盖框；

根据所述最小覆盖框和预设位置确定第一候选区域；

获取所述第一候选区域的第一候选图像，并获取所述第一候选图像的灰度图；

提取所述第一候选图像的灰度值小于预设灰度阈值比较，以得到第二候选区域；

将所述第二候选区域连通以得到检测区。

2.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述对所述检测图像进行阈值处理，以得到检测卡骨架图像，包括：

获取所述检测图像的灰度图；

获取所述灰度图的最大峰值，并根据所述最大峰值左右的半峰位置得到第一阈值和第二阈值；

获取所述第一阈值和所述第二阈值之间的所有像素以得到骨架像素；

获取所述检测图像中与对应所述骨架像素的图像区域以得到检测卡骨架。

3.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述根据所述检测区特征曲线得到背景信号值、质控值和检测值，包括：

获取所述检测区特征曲线的中值，以得到背景信号值；

获取所述检测区特征曲线的二阶导数曲线，并计算所述二阶导数曲线的平均值和标准差；

获取所述二阶导数曲线中二阶导数曲线值大于所述平均值与二倍所述标准差之和的多个波谷位置；

根据所述检测区特征曲线的多个所述波谷位置确定所述质控值和/或所述检测值。

4.根据权利要求3所述的识别方法，其特征在于，所述根据所述检测区特征曲线的多个所述波谷位置确定所述质控值和/或所述检测值，包括：

根据所述二阶导数曲线的左半部预设第一距离的所述波谷位置确定质控位置；

根据所述检测区特征曲线和所述质控位置确定所述质控值；

根据所述二阶导数曲线的右半部预设第一距离的所述波谷位置确定检测位置；

根据所述检测区特征曲线和所述检测位置确定所述检测值。

5.根据权利要求3所述的识别方法，其特征在于，所述根据所述背景信号值、所述质控值、所述检测值和预设检测指标阈值输出检测结果，包括：

根据所述背景信号值、所述质控值和所述检测值确定检测指标值；

根据所述背景信号值和所述标准差确定背景阈值；

将所述质控值和所述背景阈值、所述检测指标值和所述预设检测指标阈值比较以输出检测结果。

6.根据权利要求5所述的识别方法，其特征在于，所述将所述质控值和所述背景阈值、所述检测指标值和预设检测指标阈值比较以输出检测结果，包括：

若所述质控值大于所述背景阈值，则输出所述检测结果为无效；

若所述质控值小于或等于所述背景阈值，且所述检测指标值大于或等于所述预设检测指标阈值，则输出所述检测结果为阳性；

若所述质控值小于或等于所述背景阈值，且所述检测指标值小于所述预设检测指标阈值，则输出所述检测结果为阴性。