[发明专利]具有透气罩的传感器装置及所属的制造方法在审

专利信息
申请号: 202110294766.5 申请日: 2021-03-19
公开(公告)号: CN113526450A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: R·M·沙勒;K·伊利安;H·托伊斯 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 闫昊
地址: 德国诺伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 透气 传感器 装置 所属 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种传感器装置,包括:

传感器芯片(2),具有MEMS结构(8),其中所述MEMS结构(8)被布置在所述传感器芯片(2)的主表面(4)处;以及

透气的罩(20),被布置在所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)上方,透气的所述罩覆盖所述MEMS结构(8)并在所述MEMS结构(8)上方形成空腔(22)。

2.根据权利要求1所述的传感器装置,其中透气的所述罩(20)具有多个开口(24),并且每个开口(24)的最大尺寸小于5微米。

3.根据权利要求1或2所述的传感器装置,其中透气的所述罩(20)由以下至少一项制造而成:光致抗蚀剂、聚酰亚胺或聚苯并恶唑。

4.根据权利要求1或2所述的传感器装置,其中透气的所述罩(20)由以下至少一项制造而成:半导体材料、玻璃材料或陶瓷材料。

5.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置,其中在所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)的俯视图中,所述传感器芯片(2)的轮廓与所述传感器装置的轮廓基本相同。

6.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置,所述传感器装置还包括:

多个沟槽(14),所述沟槽分别从所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)延伸到所述传感器芯片(2)的半导体材料中,并且在所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)的俯视图中,所述沟槽围绕所述MEMS结构(8)。

7.根据权利要求6所述的传感器装置,其中在所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)的俯视图中,所述沟槽(14)被布置在透气的所述罩(20)的轮廓之外。

8.根据权利要求6所述的传感器装置,其中在所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)的俯视图中,所述沟槽(14)被布置在透气的所述罩(20)的轮廓之内。

9.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置,所述传感器装置还包括:

重新布线层(26),所述重新布线层将所述传感器芯片(2)的电触点(12)与所述传感器装置的外围连接元件(34)电耦连,

其中所述重新布线层(26)被布置在所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)上方、在所述传感器芯片(2)的与所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)相对置的主表面(6)上方、或在所述罩(20)的主表面上方。

10.根据权利要求9所述的传感器装置,其中透气的所述罩(20)由所述重新布线层(26)的一部分制造而成。

11.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置,所述传感器装置还包括:

延伸穿过所述传感器芯片(2)的导电通孔(36),所述导电通孔将所述传感器芯片(2)的电触点(12)与所述传感器装置的外围连接元件(34)电耦连。

12.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置,所述传感器装置还包括:

延伸穿过透气的所述罩(20)的导电通孔(38),所述导电通孔将所述传感器芯片(2)的电触点(12)与所述传感器装置的外围连接元件(34)电耦连。

13.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置,所述传感器装置还包括:

封装材料(42),被布置在所述传感器芯片(2)的所述主表面(4)上方,其中透气的所述罩(20)至少部分地在所述封装材料(42)中被嵌入。

14.根据权利要求13所述的传感器装置,所述传感器装置还包括:

延伸穿过所述封装材料(42)的导电通孔(44),所述导电通孔将所述传感器芯片(2)的电触点(12)与所述传感器装置的外围连接元件(34)电耦连。

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