[发明专利]一种基于TM-SRC的三维无纹理目标位姿估计方法在审

专利信息
申请号: 202110058772.0 申请日: 2021-01-16
公开(公告)号: CN112802098A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 王建林;谭振国;郭永奇;邱科鹏 申请(专利权)人: 北京化工大学
主分类号: G06T7/73 分类号: G06T7/73;G06T17/00;G06K9/62
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 tm src 三维 纹理 目标 估计 方法
【权利要求书】:

1.一种基于TM-SRC的三维无纹理目标位姿估计方法,其特征在于:该方法具体包括以下步骤:

步骤一:基于三维目标CAD模型构建模板库,利用不同视点的位姿参数计算投影变换矩阵,然后使用开放图形库OpenGL对三维目标CAD模型进行解析渲染,投影生成不同视点下的模板,最后提取模板库模板的特征并进行存储,离线完成模板库构建;

步骤二:构建先验分层树加速搜索匹配,通过引入采样视点位姿的先验知识,将相邻视点的模板归为一类,将中心视点模板作为类别中心,并对模板图像进行降采样,完成先验分层树的构建;

步骤三:输入三维目标测试图像并进行降采样构建测试图像金字塔,加载离线构建的先验分层树的模板特征以及索引信息;在先验分层树的高层使用相似性度量进行匹配,在先验分层树的底层引入稀疏表示分类进行分类,得到最终匹配模板,输出最终匹配模板索引和关联的位姿参数,实现三维无纹理目标的位姿估计。

2.根据权利要求1所述的一种基于TM-SRC的三维无纹理目标位姿估计方法,其特征在于:步骤一包括如下步骤,

利用OpenGL对CCD相机的成像过程进行模拟生成不同视点下的模板图像,提取模板图像的特征并进行存储,离线完成模板库构建;相机成像概括为:世界坐标系Ow-XwYwZw中的三维点经过相机坐标系Oc-XcYcZc、图像物理坐标系OR-xy、图像像素坐标系OI-uv之间的变换,最终变换为像平面中像素点pI(u,v)的过程,世界坐标系与图像像素坐标系之间的转换关系表示为:

式中,η=1/zc为尺度因子,zc为深度值;(u0,v0)为主点坐标;fx和fy为相机焦距与x和y方向的像元尺寸之比;γ表示OR-xy坐标系两坐标轴垂直度偏差;K为相机的内参矩阵;M为相机的外参矩阵,由旋转矩阵R和平移向量t组成;

基于三维目标CAD模型构建模板库,从不同的视角对目标模型进行投影;利用OpenGL的虚拟相机模拟成像过程,假设三维目标CAD模型处于一个单位球的中心位置,虚拟相机位于球体表面,在不同的视点对三维目标CAD模型进行投影,在球面上移动虚拟相机实现,模板位姿参数由采样视点半径r,绕x-y轴和光轴z旋转角度α,β,λ四个参数表示,在具有四个位姿参数的球面上均匀采样获取各视点位姿参数;每个平面所对应的颜色的RGB三通道值被分别设置为其法向量的三个分量,将目标不同表面赋为不同颜色以满足后续特征提取的需要;

得到模板图像后需要对模板图像进行特征提取用于后续相似度计算,在采样视点位姿附近通过随机采样投影生成大量二维图像;使用离散性差分算子Sobel算子从每幅图像中提取梯度和梯度方向,选取RGB三通道中梯度幅值最大的梯度方向作为该像素点的梯度方向,将提取的梯度方向量化为8个方向;利用量化后的梯度方向在每个像素点上构造梯度方向直方图;最后,保留大于设定阈值的量化梯度方向,对每个像素点构建一个二进制字符串作为特征,同时将直方图的最大频率保留作为后续匹配相似性度量的权重。

3.根据权利要求1所述的一种基于TM-SRC的三维无纹理目标位姿估计方法,其特征在于:步骤二包括如下步骤,

构建先验分层树加速搜索匹配,通过建树的方法加速搜索匹配过程;利用采样视点位姿的先验知识构造分层树,在模板生成过程中,在具有四个位姿参数的球面上均匀采样,每个模板的位姿参数与其相邻模板相近,因此相邻模板之间的相似性会很高;在此先验知识的基础上,将相邻视点归为一类,并将中心视点作为类别中心参与下一次分类,建立先验分层树,使用降采样构建图像金字塔进一步加快匹配速度。

4.根据权利要求1所述的一种基于TM-SRC的三维无纹理目标位姿估计方法,其特征在于:步骤三包括如下步骤,

输入三维目标测试图像并进行降采样构建测试图像金字塔,加载离线构建的先验分层树的模板特征以及索引信息;在现有基于模板匹配的位姿估计方法基础上引入稀疏表示分类,构建基于TM-SRC的位姿估计方法,首先在步骤二生成的先验分层树的高层使用相似性度量进行匹配,采用一种鲁棒的基于特征PCOF的相似性度量:

相似度分数由位运算与(符号∧)计算,其中oriI和oriT分别表示测试图像和模板在每个像素点的特征,x,y为模板特征像素点坐标,xi,yi为滑动过程中x,y方向的偏移量;δ(oriI∈oriT)为单个像素点权值计算函数,n为模板的特征数量,wi是该像素点的权重,即直方图主方向的频率;如果测试图像和模板特征相与的结果为真,则在相似度分数的分子上加上相应的权重;。

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