[发明专利]部件承载件及其制造方法和使用部件承载件的方法在审

专利信息
申请号: 202110042764.7 申请日: 2021-01-13
公开(公告)号: CN113133184A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 马库斯·卡斯泰利克;拉克纳·塞巴斯蒂安 申请(专利权)人: 奥特斯奥地利科技与系统技术有限公司
主分类号: H05K1/02 分类号: H05K1/02
代理公司: 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 代理人: 王晖;曹桓
地址: 奥地利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 部件 承载 及其 制造 方法 使用
【权利要求书】:

1.一种部件承载件(100),其中,所述部件承载件(100)包括:

叠置件(102),所述叠置件(102)包括多个电传导层结构(104)和至少一个电绝缘层结构(106);

其中,所述电传导层结构(104)包括电传导的竖向贯通连接件(108)和水平延伸的电传导迹线(110),所述水平延伸的电传导迹线(110)与所述竖向贯通连接件(108)的端部部分(116)电联接;

背钻孔(112),所述背钻孔(112)穿过所述至少一个电绝缘层结构(106)的至少一部分而朝着所述端部部分(116)延伸;以及

蚀刻颈部(114),所述蚀刻颈部(114)将所述背钻孔(112)与所述竖向贯通连接件(108)的所述端部部分(116)连接。

2.根据权利要求1所述的部件承载件(100),包括以下特征中的至少一者:

其中,所述竖向贯通连接件(108)是镀覆的过孔;

所述部件承载件包括垫(118),所述垫(118)将所述电传导迹线(110)与所述竖向贯通连接件(108)电连接;

其中,所述竖向贯通连接件(108)包括位于所述蚀刻颈部(114)与所述电传导迹线(110)之间的电传导桩形部(120),其中,特别地,所述桩形部(120)的竖向长度(b)不大于0.2mm,特别地不大于0.1mm;

其中,所述部件承载件(100)在所述蚀刻颈部(114)与所述电传导迹线(110)之间没有电传导桩形部;

其中,所述竖向贯通连接件(108)的所述端部部分(116)没有毛刺;

其中,所述背钻孔(112)包括筒形部分(122),特别地,所述背钻孔(112)包括位于所述筒形部分(122)与所述蚀刻颈部(114)之间的锥形或截头锥形部分(124);

其中,所述蚀刻颈部(114)呈筒形形状和截头锥形状中的一者;

其中,所述蚀刻颈部(114)的直径(d)小于所述背钻孔(112)的直径(D);

其中,所述竖向贯通连接件(108)被构造为筒形电传导结构和中空筒形电传导结构中的一者;

其中,所述部件承载件(100)被构造成用于高频应用;

所述部件承载件(100)包括至少一个电子部件(126),所述电子部件(126)特别是至少一个射频半导体芯片,所述射频半导体芯片配置成用于发射和/或接收射频信号、安装在所述叠置件(102)上和/或嵌入在所述叠置件(102)中,并且所述射频半导体芯片与所述电传导迹线(110)和所述竖向贯通连接件(108)电联接;

其中,所述部件承载件(100)包括测试结构(150),所述测试结构(150)包括至少一个水平延伸的电传导虚迹线(130),所述至少一个水平延伸的电传导虚迹线(130)位于所述背钻孔(112)的竖向高度处并且连接至所述背钻孔(112),以及/或者,所述至少一个水平延伸的电传导虚迹线(130)位于所述蚀刻颈部(114)的竖向高度处并且连接至所述蚀刻颈部(114),其中,特别地,所述测试结构(150)构造成使得:将电测试信号施加到所述至少一个水平延伸的电传导虚迹线(130)和所述电传导迹线(110)中的一者并且对所述至少一个水平延伸的电传导虚迹线(130)和所述电传导迹线(110)中的另一者处的响应信号进行检测,以指示所述背钻孔(112)和/或所述蚀刻颈部(114)的功能。

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