[发明专利]检测装置在审
| 申请号: | 202080062920.X | 申请日: | 2020-08-18 |
| 公开(公告)号: | CN114342082A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
| 发明(设计)人: | 多田正浩;中村卓;泷本昭雄 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号: | H01L27/30 | 分类号: | H01L27/30 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;闫剑平 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 检测 装置 | ||
检测装置具备:基板;多个第1光传感器,其设于基板的检测区域,包括具有光伏效应的有机材料层;以及至少一个以上的第2光传感器,其设于基板,包括具有光伏效应的无机材料层。多个第1光传感器在检测区域呈矩阵状排列,第2光传感器配置在基板的周边区域。或者,第2光传感器配置在基板的检测区域。
技术领域
本发明涉及检测装置。
背景技术
近年来,作为用于个人认证等的生物体传感器,已知有光学式的生物体传感器。作为生物体传感器,已知有指纹传感器(例如,参照专利文献1)或静脉传感器。作为用于生物体传感器的光传感器,已知有使用了有机材料的光传感器以及使用了无机材料的光传感器。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:美国专利申请公开第2018/0012069号说明书
发明内容
使用了有机材料的光传感器与例如使用了非晶硅等的无机材料的光传感器相比,能够检测宽波长区域的光。另一方面,使用了有机材料的光传感器有可能因陈年劣化等致使传感器的输出发生变化。
本发明的目的在于,提供一种能够抑制检测性能下降的检测装置。
本发明的一个方面的检测装置具备:基板;多个第1光传感器,其设于所述基板的检测区域,包括具有光伏效应的有机材料层;以及至少一个以上的第2光传感器,其设于所述基板,包括具有光伏效应的无机材料层。
附图说明
图1是示出第1实施方式的具有检测装置的带照明装置的检测机器的概略剖面构成的剖视图。
图2是示出第1实施方式的检测装置的平面图。
图3是示出第1实施方式的检测装置的构成例的框图。
图4是示出检测装置的电路图。
图5是示出多个局部检测区域的电路图。
图6是示出第1光传感器的平面图。
图7是图6的Q-Q剖视图。
图8是示意性示出入射至第1光传感器的光的波长与转换效率之间的关系的曲线。
图9是表示检测装置的动作例的定时波形图。
图10是表示图9中的读取期间的动作例的定时波形图。
图11是图2的XI-XI’剖视图。
图12是示出第2光传感器的驱动电路的电路图。
图13是用于说明从第1光传感器输出的第1检测信号与从第2光传感器输出的第2检测信号之间的关系的说明图。
图14是示出第2实施方式的检测装置的平面图。
图15是示出第3实施方式的检测装置的平面图。
图16是示出第4实施方式的检测装置的平面图。
图17是图16的XVII-XVII’剖视图。
图18是示出第4实施方式的变形例的检测装置的平面图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日本显示器,未经株式会社日本显示器许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





