[发明专利]检测装置在审

专利信息
申请号: 202080062920.X 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN114342082A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 多田正浩;中村卓;泷本昭雄 申请(专利权)人: 株式会社日本显示器
主分类号: H01L27/30 分类号: H01L27/30
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟;闫剑平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种检测装置,其具备:

基板;

多个第1光传感器,其设于所述基板的检测区域,包括具有光伏效应的有机材料层;以及

至少一个以上的第2光传感器,其设于所述基板,包括具有光伏效应的无机材料层。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其中,

多个所述第1光传感器在所述检测区域呈矩阵状排列,

所述第2光传感器在所述基板的周边区域配置有一个。

3.根据权利要求1所述的检测装置,其中,

具有多个所述第2光传感器,

多个所述第1光传感器在所述检测区域呈矩阵状排列,

多个所述第2光传感器设在所述基板的周边区域,且沿所述检测区域的至少一边排列。

4.根据权利要求1所述的检测装置,其中,

具有多个所述第2光传感器,

所述第1光传感器以及所述第2光传感器在所述检测区域中沿第1方向交替排列。

5.根据权利要求1所述的检测装置,其中,

所述第2光传感器设在所述检测区域,

多个所述第1光传感器与一个所述第2光传感器重叠设置。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的检测装置,其中,

所述无机材料层为由非晶硅构成的无机半导体层。

7.根据权利要求1~6中任一项所述的检测装置,其中,

具有对多个所述第1光传感器以及所述第2光传感器的检测进行控制的控制电路,

所述控制电路基于从所述第1光传感器输出的第1检测信号与从所述第2光传感器输出的第2检测信号的差分的信号的变化,对多个所述第1光传感器的检测进行控制。

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