[发明专利]用于运行非易失性存储装置的方法和设备

说明书

用来运行具有多个存储单元的用于非易失性地存储数据、尤其是机动车的数据的存储装置的方法，该方法具有如下步骤：检查可预先给定数目的存储单元，其中获得检查结果，并且根据该检查结果，必要时对所述可预先给定数目的存储单元中的至少一个存储单元进行编程，其中在该存储装置运行期间实施检查以及必要时编程的步骤，其中尤其是在该存储装置运行中至少一个另外的单元可以访问该存储装置。

技术领域

本公开涉及一种用来运行具有多个存储单元的用于非易失性地存储数据的存储装置（“非易失性存储装置”）的方法。

本公开还涉及一种用来运行具有多个存储单元的用于非易失性地存储数据的存储装置的设备。

发明内容

优选的实施方式涉及一种用来运行具有多个存储单元的用于非易失性地存储数据、尤其是机动车的数据的存储装置的方法，该方法具有如下步骤：检查可预先给定数目的存储单元，其中获得检查结果，并且根据该检查结果，必要时对所述可预先给定数目的存储单元中的至少一个存储单元进行编程，其中在该存储装置运行期间实施检查以及必要时编程的步骤。由此，该存储装置的存储单元的内容可以有利地高效地被检查。尤其是，可以及早地识别并且必要时消除错误或即将发生的或将来可能出现的错误。

在其它优选的实施方式中规定：可预先给定数目的存储单元包括一个或多个存储单元。在其它优选的实施方式中，检查和/或必要时编程的步骤因此例如可以被应用于唯一一个存储单元。在其它优选的实施方式中，检查和/或必要时编程的步骤可以被应用于比较少的存储单元、尤其是二至八个存储单元。

在其它优选的实施方式中规定：检查和/或必要时编程的步骤以检查周期来被实施，其中检查周期例如包括对至少一个唯一的存储单元的检查和/或必要时编程。例如，在其它优选的实施方式中，在一个检查周期中可以检查唯一一个存储单元。由此，也可以有针对性地对尤其是单个存储单元进行编程或再编程，由此该存储装置的可靠性被提高并且这些存储单元整体上受保护，因为省去了本身不必要的对另外的、其它的存储单元的编程或再编程。

在其它优选的实施方式中，例如可以在一个检查周期中检查可预先给定数目比较少的存储单元，例如二至八个存储单元。

在其它优选的实施方式中规定：多个检查周期尤其是在时间上依次（例如一个紧接着一个和/或在两个连续的检查周期之间有（恒定或可变的）等待时间地）被实施，这些检查周期分别例如涉及该存储装置的唯一一个存储单元或者该存储装置的可预先给定数目比较少的存储单元或者也涉及该存储装置的数目更多（例如超过八个）的存储单元。

在其它优选的实施方式中，也可设想的是：至少两个不同的检查周期涉及数目分别不同的存储单元。

在其它优选的实施方式中规定：该存储装置的每个存储单元尤其是在该存储装置的运行阶段（没有在此期间停用的运行）期间都至少一次、优选地多次经历检查周期。

在其它优选的实施方式中规定：在几分钟、几小时、几天、几星期、几个月的跨度上对整个存储器进行测试并且在需要时对有错误的位单元进行修正。

在其它优选的实施方式中规定：在该存储装置运行中，至少一个另外的单元，例如计算装置、诸如微控制器的计算内核等等，可以访问该存储装置。

在其它优选的实施方式中规定：检查的步骤通过用于校验和检查的电路、尤其是硬件电路、例如通过诸如在系统或DMA（direkt memory access，直接存储器访问）扩展中的其它计算内核那样的总线主机来被执行，尤其是独立于微控制器。

在其它优选的实施方式中规定：该检查包括对至少一个第一参量的确定，该第一参量表征所述可预先给定数目的存储单元中的至少一个存储单元的数据获得。由此可以判断：是否必要时应该在检查的步骤之后实施编程或再编程，例如因为在检查时已经识别出了错误或即将发生的或将来可能出现的错误。